Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 半导体激光芯片组件的测试装置 | |
| 其他题名 | 半导体激光芯片组件的测试装置 |
| 胡海; 王泰山; 方继林; 李成鹏; 刘文斌 | |
| 2016-11-23 | |
| 专利权人 | 深圳清华大学研究院 |
| 公开日期 | 2016-11-23 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 摘要 | 本实用新型公开了半导体激光芯片组件的测试装置，该测试装置包括测试治具和散热组件，测试治具用于测试半导体激光芯片组件；散热组件用于在测试治具对半导体激光芯片组件测试时进行散热；其中，测试治具通过外力与散热组件实现可分离连接。通过上述方式，本实用新型能够快速拆卸测试治具，提高更换测试治具的效率，同时方便测试治具的上料和下料，提高测试效率。 |
| 其他摘要 | 本实用新型公开了半导体激光芯片组件的测试装置，该测试装置包括测试治具和散热组件，测试治具用于测试半导体激光芯片组件；散热组件用于在测试治具对半导体激光芯片组件测试时进行散热；其中，测试治具通过外力与散热组件实现可分离连接。通过上述方式，本实用新型能够快速拆卸测试治具，提高更换测试治具的效率，同时方便测试治具的上料和下料，提高测试效率。 |
| 申请日期 | 2016-04-14 |
| 专利号 | CN205720305U |
| 专利状态 | 授权 |
| 申请号 | CN201620313017.7 |
| 公开（公告）号 | CN205720305U |
| IPC 分类号 | G01R1/04 |
| 专利代理人 | 何青瓦 |
| 代理机构 | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/82648 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 深圳清华大学研究院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 胡海,王泰山,方继林,等. 半导体激光芯片组件的测试装置. CN205720305U[P]. 2016-11-23. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN205720305U.PDF（146KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
| 个性服务 |
| 推荐该条目 |
| 保存到收藏夹 |
| 查看访问统计 |
| 导出为Endnote文件 |
| 谷歌学术 |
| 谷歌学术中相似的文章 |
| [胡海]的文章 |
| [王泰山]的文章 |
| [方继林]的文章 |
| 百度学术 |
| 百度学术中相似的文章 |
| [胡海]的文章 |
| [王泰山]的文章 |
| [方继林]的文章 |
| 必应学术 |
| 必应学术中相似的文章 |
| [胡海]的文章 |
| [王泰山]的文章 |
| [方继林]的文章 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论