单缝衍射杨氏模量测量仪

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	单缝衍射杨氏模量测量仪
其他题名	单缝衍射杨氏模量测量仪
	汪仕元; 黄建群; 胡再国; 雍志华; 李娟; 梁雅庭; 穆万军; 陈俏旭; 万源; 刘莎杉; 欧阳宇轩; 罗若桐; 陈琦; 江志洋; 武睿; 张睿; 谢可馨; 杨驰; 张天行; 李慕; 贺春兰; 宋博雅; 张帅; 惠博
	2008-10-15
专利权人	四川大学
公开日期	2008-10-15
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	一种单缝衍射杨氏模量测量仪，主要由上横梁、立柱、底座、待测丝、单缝上下刀口、激光器和衍射屏组成，其特征是两根立柱由上横梁和底座固定，待测丝由待测丝紧固螺钉固定在上横梁上，单缝平台固定在立柱的中部，单缝上刀口和激光器固定在单缝平台下，单缝下刀口由锁紧螺钉锁定在待测丝上，半导体激光器的光束正对单缝上下刀口之间的缝隙(称为单缝)，衍射屏放在离单缝一米以外的激光光路上。当激光束穿过单缝后其衍射光斑出现在衍射屏上，根据单缝衍射的物理原理，测出衍射光斑宽度的变化量就可计算出单缝宽度的变化量并进而精确地测量出待测丝的杨氏模量。
其他摘要	一种单缝衍射杨氏模量测量仪，主要由上横梁、立柱、底座、待测丝、单缝上下刀口、激光器和衍射屏组成，其特征是两根立柱由上横梁和底座固定，待测丝由待测丝紧固螺钉固定在上横梁上，单缝平台固定在立柱的中部，单缝上刀口和激光器固定在单缝平台下，单缝下刀口由锁紧螺钉锁定在待测丝上，半导体激光器的光束正对单缝上下刀口之间的缝隙(称为单缝)，衍射屏放在离单缝一米以外的激光光路上。当激光束穿过单缝后其衍射光斑出现在衍射屏上，根据单缝衍射的物理原理，测出衍射光斑宽度的变化量就可计算出单缝宽度的变化量并进而精确地测量出待测丝的杨氏模量。
申请日期	2008-03-10
专利号	CN101285748A
专利状态	失效
申请号	CN200810044917.6
公开（公告）号	CN101285748A
IPC 分类号	G01N3/14 \| G01N21/17 \| G01B11/14
专利代理人	-
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/82596
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	四川大学
推荐引用方式 GB/T 7714	汪仕元,黄建群,胡再国,等. 单缝衍射杨氏模量测量仪. CN101285748A[P]. 2008-10-15.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN101285748A.PDF（234KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文