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Semiconductor laser
其他题名Semiconductor laser
KAWANO HIDEO
1991-10-08
专利权人日本電気株式会社
公开日期1991-10-08
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要PURPOSE:To obtain a real refractive index distribution without absorption loss by a method wherein an optical guide layer formed like a stripe-like mesa is provided adjacent to an active layer, and a refractive index distribution is formed based on the change of the optical guide layer in thickness. CONSTITUTION:An N-GaAs buffer layer 12, an N-(Al0.6Ga0.4)0.5InP clad layer 13, an active layer 14, an optical guide layer 15, a clad layer, and a P-Ga0.5In0.5P cap layer 17 are successively grown on an N-GaAs substrate 11 possessed of a (100) plane through an MOVPE method. In succession, a stripe-like SiO2 film mask is formed on the cap layer 17. Next, the thickness of the optical guide layer 15 both on the sides of the stripe-like mesa is controlled with an etching solution, and a current blocking layer 18 is selectively grown on the mesa. Then, the SiO2 film mask is removed, a P-GaAs contact layer 19 is grown on all the surface, a P-side electrode 20 is provided to a contact layer 19, and an N-side electrode 21 is built on the substrate 1
其他摘要目的:通过一种方法获得没有吸收损失的实际折射率分布,其中形成类似条状台面的光导层设置在有源层附近,并且基于光导的变化形成折射率分布层厚。组成:N-GaAs缓冲层12,N-(Al0.6Ga0.4)0.5InP包层13,有源层14,光导层15,包层和P-Ga0.5In0.5P通过MOVPE方法在具有(100)面的N-GaAs衬底11上连续生长盖层17。接着,在盖层17上形成条状SiO2膜掩模。接下来,用条形台面两侧的光导层15的厚度由蚀刻溶液和电流阻挡层控制。在台面上选择性地生长图18所示的结构。然后,去除SiO2膜掩模,在所有表面上生长P-GaAs接触层19,在接触层19上设置P侧电极20,在基板11上构建N侧电极21。。
申请日期1990-01-31
专利号JP1991227088A
专利状态失效
申请号JP1990023483
公开(公告)号JP1991227088A
IPC 分类号H01S5/00 | H01S5/20 | H01S5/22 | H01S5/223 | H01S5/323 | H01S3/18
专利代理人-
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/81267
专题半导体激光器专利数据库
作者单位日本電気株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
KAWANO HIDEO. Semiconductor laser. JP1991227088A[P]. 1991-10-08.
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JP1991227088A.PDF(161KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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