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一种半导体激光器及其制备方法
其他题名一种半导体激光器及其制备方法
杨成奥; 张宇; 廖永平; 魏思航; 徐应强; 牛智川
2015-12-16
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2015-12-16
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明公开了一种单模大功率高亮度GaSb基布拉格反射器MOPA集成半导体激光器及其制备方法,该布拉格反射MOPA集成半导体激光器包括:衬底,外延结构,其生长所述衬底上,由下至上包括:N型下接触层、N型下限制层、下波导层、有源区、上波导层、P型上限制层、P型上接触层;增益放大区,其位于所述半导体激光器的前部即出光部分,为向下刻蚀所述P型上接触层形成的锥形结构;主振荡区,其位于所述增益放大区后部,为向下刻蚀P型上限制层形成的脊形波导结构;布拉格反射区,其位于所述主振荡区后部,为向下刻蚀P型上限制层形成的周期性布拉格光栅结构;光限制槽,其对称分布于所述脊形波导两侧,与所述脊形波导倾斜设置。
其他摘要本发明公开了一种单模大功率高亮度GaSb基布拉格反射器MOPA集成半导体激光器及其制备方法,该布拉格反射MOPA集成半导体激光器包括:衬底,外延结构,其生长所述衬底上,由下至上包括:N型下接触层、N型下限制层、下波导层、有源区、上波导层、P型上限制层、P型上接触层;增益放大区,其位于所述半导体激光器的前部即出光部分,为向下刻蚀所述P型上接触层形成的锥形结构;主振荡区,其位于所述增益放大区后部,为向下刻蚀P型上限制层形成的脊形波导结构;布拉格反射区,其位于所述主振荡区后部,为向下刻蚀P型上限制层形成的周期性布拉格光栅结构;光限制槽,其对称分布于所述脊形波导两侧,与所述脊形波导倾斜设置。
申请日期2015-08-31
专利号CN105161976A
专利状态失效
申请号CN201510544459.2
公开(公告)号CN105161976A
IPC 分类号H01S5/068 | H01S5/065 | H01S5/32
专利代理人宋焰琴
代理机构中科专利商标代理有限责任公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/80050
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国科学院半导体研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
杨成奥,张宇,廖永平,等. 一种半导体激光器及其制备方法. CN105161976A[P]. 2015-12-16.
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文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN105161976A.PDF(888KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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