OPT OpenIR  > 半导体激光器专利数据库
半導体レーザ装置およびその製造方法
其他题名半導体レーザ装置およびその製造方法
鹿嶋 孝之; 牧田 幸治; 足立 秀人
2006-04-06
专利权人松下電器産業株式会社
公开日期2006-04-06
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要【課題】簡便な構成で低アスペクト比のレーザ光が得られる半導体レーザ装置を提供する。 【解決手段】本発明のレーザ装置は、n型GaAs基板101の上にn型バッファ層102、n型クラッド層103、GaInP系材料の活性層104、p型第1クラッド層105、p型エッチングストップ層106、リッジ状に加工されたp型第2クラッド層107が順次形成され、さらに、p型第2クラッド層107の側面を覆うようにn型電流ブロック層108が形成され、p型コンタクト層109がその上に形成されている。電流非注入領域となる共振器端面近傍には、Znを拡散させた窓構造の領域110を有し、さらに同じ領域のリッジ斜面または上部では、n型電流ブロック層108およびp型コンタクト層109が除去されている。 【選択図】図1
其他摘要要解决的问题:提供一种半导体激光装置,通过简单的结构获得具有低纵横比的激光束。ŽSOLUTION:在激光器件中,n型缓冲层102,n型覆层103,由GaInP材料制成的有源层104,p型第一覆层105,p型蚀刻停止层106在n型GaAs衬底101上依次形成以脊形工作的p型第二覆层107.在激光器件中,形成n型电流阻挡层108,以便涂覆n型GaAs衬底101的侧面。在n型电流阻挡层108上形成p型第二覆盖层107和p型接触层109.在谐振器的端面附近形成具有扩散锌的窗口结构的区域110作为电流非注入区域,n型电流阻挡层108和p型接触层109在相同区域的脊斜面或上部去除。Ž
申请日期2004-09-24
专利号JP2006093391A
专利状态失效
申请号JP2004276865
公开(公告)号JP2006093391A
IPC 分类号H01S5/20 | H01S5/00
专利代理人岩橋 文雄 | 坂口 智康 | 内藤 浩樹
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/79264
专题半导体激光器专利数据库
作者单位松下電器産業株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
鹿嶋 孝之,牧田 幸治,足立 秀人. 半導体レーザ装置およびその製造方法. JP2006093391A[P]. 2006-04-06.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
JP2006093391A.PDF(82KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[鹿嶋 孝之]的文章
[牧田 幸治]的文章
[足立 秀人]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[鹿嶋 孝之]的文章
[牧田 幸治]的文章
[足立 秀人]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[鹿嶋 孝之]的文章
[牧田 幸治]的文章
[足立 秀人]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。