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窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
其他题名窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
内田 憲治; 後藤 順; 河田 雅彦
2000-05-30
专利权人株式会社日立製作所
公开日期2000-05-30
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要【課題】高効率および高信頼性の窒化ガリウム系化合物半導体発光素子を実現する。 【解決手段】第1クラッド層の成長温度とは異なる温度で、または異なる混晶組成比でピット抑制層を量子井戸発光層下に形成することによって、第1クラッド層からの貫通転移に伴う発光層内でのピット密度を大幅に低減させる。
其他摘要要解决的问题:实现具有高效率和高可靠性的氮化镓基化合物半导体发光器件。 解决方案:通过在与第一包覆层的生长温度不同的温度下或以不同的混合晶体组成比形成量子阱发光层下方的凹坑抑制层,伴随从第一包覆层的穿透过渡的发光从而大大降低了层中的凹坑密度。
申请日期1998-11-18
专利号JP2000150959A
专利状态失效
申请号JP1998327721
公开(公告)号JP2000150959A
IPC 分类号H01S5/323 | H01S5/343 | H01L33/12 | H01L33/06 | H01L33/32 | H01S5/00 | H01L33/00
专利代理人小川 勝男
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/78780
专题半导体激光器专利数据库
作者单位株式会社日立製作所
推荐引用方式
GB/T 7714
内田 憲治,後藤 順,河田 雅彦. 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子. JP2000150959A[P]. 2000-05-30.
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文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
JP2000150959A.PDF(25KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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