Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
半導体レーザ | |
其他题名 | 半導体レーザ |
浜田 弘喜 | |
1997-10-17 | |
专利权人 | 三洋電機株式会社 |
公开日期 | 1998-02-04 |
授权国家 | 日本 |
专利类型 | 授权发明 |
摘要 | PURPOSE:To make it possible to perform a stable operation for a long period at high-output operation without non-luminescent layer being formed at the time of forming a dielectric multi-layer film by disposing a buffer layer between the end surface of a laser element and a dielectric multi-layer film. CONSTITUTION:In an InGaAlP semiconductor laser element 1, an n-InGaAlP clad layer 1b, an InGaP active layer 1c, an InGaAlP clad layer 1d, and a p- GaAs cap layer 1e are laminated in this order from top of a GaAs substrate 1a. On the end surface of the reflection side of the semiconductor laser element 1 is coated an a-Si:H buffer layer 5. ON the end surface of the incidence side of the InGaAlP semiconductor laser element 1 is adhered the a-Si:H buffer layer 5. As a result, at the time of forming an Al2O3 film 2 or an a-Si:H film 3, the formation of non-luminescent layers on the end surface is reduced, and laser beams of high output are stably output for a long period of time. |
其他摘要 | 用途:通过在激光器的端面之间设置缓冲层,可以在高输出操作下长时间稳定工作而不会在形成电介质多层膜时形成不发光层元件和电介质多层膜。组成:在InGaAlP半导体激光元件1中,从GaAs衬底1a的顶部依次层叠n-InGaAlP包层1b,InGaP有源层1c,InGaAlP包层1d和p-GaAs盖层1e。。在半导体激光元件1的反射侧的端面上涂覆a-Si:H缓冲层5.在InGaAlP半导体激光元件1的入射侧的端面上粘附a-Si:H缓冲层结果,在形成Al2O3膜2或a-Si:H膜3时,在端面上形成不发光层,并且稳定地输出高输出的激光束。很长一段时间。 |
申请日期 | 1988-06-17 |
专利号 | JP2708784B2 |
专利状态 | 失效 |
申请号 | JP1988150857 |
公开(公告)号 | JP2708784B2 |
IPC 分类号 | H01S | H01S5/00 | H01S5/028 | H01S3/18 |
专利代理人 | 河野 登夫 |
代理机构 | - |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/78069 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 三洋電機株式会社 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 浜田 弘喜. 半導体レーザ. JP2708784B2[P]. 1997-10-17. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
JP2708784B2.PDF(22KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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