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半導体レ-ザ装置
其他题名半導体レ-ザ装置
岡井 誠; 魚見 和久; 辻 伸二; 茅根 直樹; 原田 和英
1996-07-08
专利权人株式会社日立製作所
公开日期1996-10-02
授权国家日本
专利类型授权发明
摘要PURPOSE:To reduce a parasitic capacitance related to a junction current block layer by more than 90 % and therefore to realize a super-high speed modulation more than 20 GHz by a method wherein impurity ions with deep level for a semiconductor material crystal are implanted into a part containing a pnp or an npn current block layer for semi-insulation. CONSTITUTION:An n-type InGaAs optical guide layer 2, an un-doped InGaAsP active layer 3, a P-type InGaAs buffer layer 4, and a P-type InP clad layer 5 are successively formed on an n-type InP substrate 1 surface, and a mesa- stripe, where an active layer about 1 mum wide is left, is formed thereafter. Next, a p-type InP buried layer 6 and an n-type InP layer 7 are grown at both sides of the mesa-stripe for the formation of a current block layer and a process follows, wherein a p-type InP clad layer 8 and a p-type InGaAsP gap layer 9 are formed on the whole surface. And, elements such as Fe, Cu, Cr, B, and the like are ion-implanted into both sides of the active layer with varying the accelerating energy at a few levels ranging from 0.75 to 3 MeV for semi- insulation. By these processes, a parasitic capacitance can be reduced from 10-40pF to 1-3pF.
其他摘要目的:通过一种方法,将与结电流阻挡层相关的寄生电容降低90%以上,从而实现超过20 GHz的超高速调制,其中半导体材料晶体的深度杂质离子被注入包含pnp或npn电流阻挡层的部件,用于半绝缘。组成:n型InGaAs光导层2,未掺杂的InGaAsP有源层3,P型InGaAs缓冲层4和P型InP包层5依次形成在n型InP衬底1上然后形成表面和台面条,其中留下约1μm宽的有源层。接着,在台面条的两侧生长p型InP埋层6和n型InP层7,以形成电流阻挡层,然后进行工艺,其中p型InP包层8在整个表面上形成p型InGaAsP间隙层9。并且,将诸如Fe,Cu,Cr,B等元素离子注入到有源层的两侧,同时改变加速能量,在0.75至3MeV的范围内用于半绝缘。通过这些工艺,寄生电容可以从10-40pF降低到1-3pF。
申请日期1987-03-25
专利号JP2539416B2
专利状态失效
申请号JP1987068819
公开(公告)号JP2539416B2
IPC 分类号H01S | H01S5/00 | H01S5/20 | H01S3/18
专利代理人小川 勝男 (外1名)
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/77978
专题半导体激光器专利数据库
作者单位株式会社日立製作所
推荐引用方式
GB/T 7714
岡井 誠,魚見 和久,辻 伸二,等. 半導体レ-ザ装置. JP2539416B2[P]. 1996-07-08.
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JP2539416B2.PDF(28KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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