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半導体レーザ
其他题名半導体レーザ
上山 智; 大仲 清司; 上野山 雄; 鈴木 政勝
2001-07-06
专利权人松下電器産業株式会社
公开日期2001-09-10
授权国家日本
专利类型授权发明
摘要【目的】 6方晶特有の利得特性を利用して高性能の半導体レーザを実現する。 【構成】 (0001)サファイア基板1上に、n-AlxGa1-xNクラッド層2、AlyGa1-yN第1光ガイド層3、GaN量子井戸層4、AlyGa1-yN 第2光ガイド層5、p-AlxGa1-xNクラッド層6を連続的に形成する。その後、エッチングによりリッジストライプ7を形成し、SiO2絶縁膜8を堆積した後アノード電極9およびカソード電極10を形成する。ここで量子井戸層4の幅は50Aであり、この量子井戸層4とクラッド層26とのバンドギャップ差は0.35eVである。このレーザの構成で、量子井戸の幅を変えることにより、光学利得の偏光依存性の大きい領域では低しきい値電流の半導体レーザが、単純な構造で実現できる。
其他摘要[目的]利用六方晶体特有的增益特性实现高性能半导体激光器。 n-Al x Ga 1-x N包覆层2,Al y Ga 1-y N第一光导层3,GaN量子阱层4,AlyGa 1-y N第二光导层5,p-Al x Ga 1 -xN包覆层6连续形成。之后,通过蚀刻形成脊形条纹7,并且在沉积SiO 2 2 绝缘膜8之后形成阳极电极9和阴极电极10。这里,量子阱层4的宽度为50A,量子阱层4和包层26之间的带隙差为0.35eV。在该激光器配置中,通过改变量子阱的宽度,可以在光学增益的偏振依赖性大的区域中以简单的结构实现具有低阈值电流的半导体激光器。
申请日期1994-08-12
专利号JP3206316B2
专利状态失效
申请号JP1994190466
公开(公告)号JP3206316B2
IPC 分类号H01S | H01S5/323 | H01S5/343 | H01S5/00
专利代理人岩橋 文雄 (外2名)
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/74528
专题半导体激光器专利数据库
作者单位松下電器産業株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
上山 智,大仲 清司,上野山 雄,等. 半導体レーザ. JP3206316B2[P]. 2001-07-06.
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