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Manufacture of semiconductor laser
其他题名Manufacture of semiconductor laser
SASAKI TATSUYA; MITO IKUO
1989-03-28
专利权人NEC CORP
公开日期1989-03-28
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要PURPOSE:To reduce a leakage current and to improve characteristics of a semiconductor laser by forming the layer of a buried hetero structure semiconductor laser by organic metal vapor growth. CONSTITUTION:An organic metal vapor growth and an MOVPE growth are conducted, for example, under reduced pressure of 76Torr, and growing temperature is set to approx. 625 deg.C. As a first growth, an InP buffer layer 2, an InGaAsP active layer 3 and an InP clad layer 4 are continuously grown on an InP substrate 1, and a DH structure is formed. After an SiN film is formed by plasma CVD on the surface, an SiN film remains in a stripe state in a direction (110), and with the film as a mask it is selectively etched to the substrate 1 with an etchant to form a vertical mesa on the side face (-100). Then, as a second growth, an InGaAsP turn ON preventive semiconductor layer 11, an InP current blocking layer 13 and an InP current blocking layer 13 are continuously buried and grown. After the SiN film on the mesa is removed, as a third growth an InP clad layer 21 and an InGaAsP cap layer 22 are grown on a whole surface.
其他摘要目的:通过有机金属气相生长形成掩埋异质结构半导体激光器层,降低漏电流并改善半导体激光器的特性。组成:有机金属蒸汽生长和MOVPE生长进行,例如,在76Torr的减压下,生长温度设定为约。 625摄氏度作为第一次生长,在InP衬底1上连续生长InP缓冲层2,InGaAsP有源层3和InP覆层4,并形成DH结构。在表面上通过等离子体CVD形成SiN膜之后,SiN膜在方向(110)上保持条带状态,并且以膜作为掩模,用蚀刻剂选择性地将其蚀刻到基板1上以形成垂直侧面的台面(-100)。然后,作为第二生长,连续掩埋和生长InGaAsP导通防止半导体层11,InP电流阻挡层13和InP电流阻挡层13。在去除台面上的SiN膜之后,作为第三生长,在整个表面上生长InP包层21和InGaAsP盖层22。
申请日期1987-09-25
专利号JP1989082684A
专利状态失效
申请号JP1987241317
公开(公告)号JP1989082684A
IPC 分类号H01L21/205 | H01S5/00 | H01S5/227 | H01S3/18
专利代理人-
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/74016
专题半导体激光器专利数据库
作者单位NEC CORP
推荐引用方式
GB/T 7714
SASAKI TATSUYA,MITO IKUO. Manufacture of semiconductor laser. JP1989082684A[P]. 1989-03-28.
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