半导体激光器自动功能测试系统

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	半导体激光器自动功能测试系统
其他题名	半导体激光器自动功能测试系统
	文少剑; 刘猛; 黄海翔; 廖东升; 董晓东
	2018-08-24
专利权人	深圳市杰普特光电股份有限公司
公开日期	2018-08-24
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	一种半导体激光器自动功能测试系统，包括：工作台；光功率检测组件，光功率检测组件包括光功率计探头、及功率采集器；光功率计探头根据激光光线的功率而产生相应的功率电信号功率采集器对功率电信号采集；光谱检测组件，光谱检测组件包括光谱导光光纤、及与光谱导光光纤耦合的光谱仪；驱动电源，用于向半导体激光器输出电流；及数据处理装置，光谱仪将光谱检测数据输出至数据处理装置；数据处理装置对驱动电源的输出电流进行控制。通过数据处理装置控制驱动电源的输出电流，使半导体激光器的通过电流按预定规律进行变化，结合光功率检测组件及光谱检测组件的检测数据，从而可自动地计算出半导体激光器的光功率电流特性曲线及光谱电流特性曲线。
其他摘要	一种半导体激光器自动功能测试系统，包括：工作台；光功率检测组件，光功率检测组件包括光功率计探头、及功率采集器；光功率计探头根据激光光线的功率而产生相应的功率电信号功率采集器对功率电信号采集；光谱检测组件，光谱检测组件包括光谱导光光纤、及与光谱导光光纤耦合的光谱仪；驱动电源，用于向半导体激光器输出电流；及数据处理装置，光谱仪将光谱检测数据输出至数据处理装置；数据处理装置对驱动电源的输出电流进行控制。通过数据处理装置控制驱动电源的输出电流，使半导体激光器的通过电流按预定规律进行变化，结合光功率检测组件及光谱检测组件的检测数据，从而可自动地计算出半导体激光器的光功率电流特性曲线及光谱电流特性曲线。
申请日期	2018-06-08
专利号	CN108444682A
专利状态	申请中
申请号	CN201810583920.9
公开（公告）号	CN108444682A
IPC 分类号	G01M11/02
专利代理人	吴平
代理机构	广州华进联合专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/73473
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	深圳市杰普特光电股份有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	文少剑,刘猛,黄海翔,等. 半导体激光器自动功能测试系统. CN108444682A[P]. 2018-08-24.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN108444682A.PDF（1382KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文