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半導体レーザ装置の実装方法
其他题名半導体レーザ装置の実装方法
持田 篤一; 井ノ上 裕人; 中尾 克; 岩田 進裕; 高森 晃; 足立 秀人; 田村 雅敏
2002-08-02
专利权人松下電器産業株式会社
公开日期2002-08-02
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要【課題】 半導体レーザ素子の温度上昇及び残留応力によるレーザ特性の劣化、或いは半導体レーザ素子の破損を抑制する半導体レーザ装置の実装方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 本発明の実装方法は、半導体レーザ素子をサブマウントに加熱圧接した後、接合部材の溶融温度以上まで再度加熱するものである。
其他摘要要解决的问题:提供一种半导体激光器件的封装方法,其中抑制了由于半导体激光器元件的温度升高和残余应力引起的激光器特性的劣化或半导体激光器元件的损坏。解决方案:在该封装方法中,将半导体激光器元件加热并压力焊接到基座上,然后将再加热重新调节到高于或等于接合构件的熔化温度的温度。
申请日期2001-01-17
专利号JP2002217480A
专利状态失效
申请号JP2001008483
公开(公告)号JP2002217480A
IPC 分类号G11B7/22 | H01S5/022 | H01L21/52
专利代理人岩橋 文雄 (外2名)
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/69602
专题半导体激光器专利数据库
作者单位松下電器産業株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
持田 篤一,井ノ上 裕人,中尾 克,等. 半導体レーザ装置の実装方法. JP2002217480A[P]. 2002-08-02.
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JP2002217480A.PDF(41KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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