| 采用DDS的近场扫描光学显微镜探针-样品的纳米距离检测 |
| 冯晓强; 白永林 ; 侯洵; 贺锋涛 ; 张东玲
|
| 作者部门 | 瞬态光学国家重点实验室
|
| 2005
|
| 发表期刊 | 光子学报
 |
| ISSN | 1004-4213
|
| 卷号 | 34期号:5页码:726-729 |
| 关键词 | 直接数字合成( Dds)
近场扫描光学显微镜
压电传感器
近场距离
|
| 学科领域 | 光学
|
| 收录类别 | EI
|
| 语种 | 中文
|
| 文献类型 | 期刊论文
|
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/6906
|
| 专题 | 瞬态光学研究室
|
| 通讯作者 | 冯晓强 |
推荐引用方式
GB/T 7714 |
冯晓强,白永林,侯洵,等. 采用DDS的近场扫描光学显微镜探针-样品的纳米距离检测[J]. 光子学报,2005,34(5):726-729.
|
| APA |
冯晓强,白永林,侯洵,贺锋涛 ,&张东玲.(2005).采用DDS的近场扫描光学显微镜探针-样品的纳米距离检测.光子学报,34(5),726-729.
|
| MLA |
冯晓强,et al."采用DDS的近场扫描光学显微镜探针-样品的纳米距离检测".光子学报 34.5(2005):726-729.
|
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论