計測装置、プリンター、および電子機器

OPT OpenIR > 半导体激光器专利数据库

	計測装置、プリンター、および電子機器
其他题名	計測装置、プリンター、および電子機器
	岡本純一
	2018-11-01
专利权人	セイコーエプソン株式会社
公开日期	2018-11-01
授权国家	日本
专利类型	发明申请
摘要	【課題】半導体レーザーに入射する戻り光の光量を増やすことができる計測装置を提供する。【解決手段】第1レーザー光を射出する第1半導体レーザーと、第2レーザー光を射出する第2半導体レーザーと、前記第1レーザー光および前記第2レーザー光が入射する集光レンズと、前記第1レーザー光の波長が連続的に単調増加する期間と、前記第1レーザー光の波長が連続的に単調減少する期間と、が繰り返し存在するように、前記第1半導体レーザーを動作させる第1駆動部と、前記第2レーザー光の波長の変動の位相と前記第1レーザー光の波長の変動の位相とが、逆位相となるように、前記第2半導体レーザーを動作させる第2駆動部と、を含み、前記第1レーザー光の主光線と前記第2レーザー光の主光線とは交差している、計測装置。【選択図】図1
其他摘要	提供一种能够增加入射在半导体激光器上的返回光量的测量装置。用于发射第一激光束的第一半导体激光器，用于发射第二激光束的第二半导体激光器，在其上入射第一激光束和第二激光束的聚光透镜，用于操作第一半导体激光器的第一半导体激光器，使得第一激光的波长连续单调增加的时段和第一激光的波长连续单调减小的时段主动第二驱动单元，用于操作第二半导体激光器，使得第二激光的波长的波动的相位和第一激光的波长的波动的相位处于相反的相位;其中第一激光束的主光线和第二激光束的主光线相互交叉。
申请日期	2017-03-29
专利号	JP2018169195A
专利状态	申请中
申请号	JP2017064719
公开（公告）号	JP2018169195A
IPC 分类号	G01S17/50 \| G01B9/02 \| G01B11/00 \| G01P3/36 \| B41J29/38
专利代理人	布施行夫 \| 大渕美千栄
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/68589
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	セイコーエプソン株式会社
推荐引用方式 GB/T 7714	岡本純一. 計測装置、プリンター、および電子機器. JP2018169195A[P]. 2018-11-01.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
JP2018169195A.PDF（164KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文