半导体激光器测试装置、系统和方法

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	半导体激光器测试装置、系统和方法
其他题名	半导体激光器测试装置、系统和方法
	张丽雯; 陆耀东; 高和平; 任奕奕; 宋金鹏
	2014-12-24
专利权人	北京光电技术研究所
公开日期	2014-12-24
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明提供一种半导体激光器测试装置、系统和方法，通过利用电压传感器、电流传感器、功率传感器和温度传感器分别测量半导体激光器的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度，然后利用数据采集电路对测量得到的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度进行数据采集得到输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线，由于采用了对半导体激光器的多种参量进行测量，获得输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线的方式，不仅能够根据输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线直观反映半导体激光器工作状态的稳定性，而且提高了测试的准确性。
其他摘要	本发明提供一种半导体激光器测试装置、系统和方法，通过利用电压传感器、电流传感器、功率传感器和温度传感器分别测量半导体激光器的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度，然后利用数据采集电路对测量得到的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度进行数据采集得到输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线，由于采用了对半导体激光器的多种参量进行测量，获得输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线的方式，不仅能够根据输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线直观反映半导体激光器工作状态的稳定性，而且提高了测试的准确性。
主权项	一种半导体激光器测试装置，其特征在于，包括：用于测量所述半导体激光器的输入电压的电压传感器、用于测量所述半导体激光器的输入电流的电流传感器、用于测量所述半导体激光器的输入功率的功率传感器、用于测量所述半导体激光器的工作温度的温度传感器，以及用于对预设时间段内测得的输入电压、输入电流、输入功率和工作温度进行数据采集得到输入电压、输入电流、输入功率和工作温度的变化曲线的数据采集电路；所述数据采集电路，分别与所述电压传感器、所述电流传感器、所述功率传感器和所述温度传感器连接。
申请日期	2014-07-23
专利号	CN104237762A
专利状态	失效
申请号	CN201410354468.0
公开（公告）号	CN104237762A
IPC 分类号	G01R31/26 \| G01R31/00
专利代理人	刘芳
代理机构	北京同立钧成知识产权代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/66941
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	北京光电技术研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	张丽雯,陆耀东,高和平,等. 半导体激光器测试装置、系统和方法. CN104237762A[P]. 2014-12-24.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN104237762A.PDF（647KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文