一种基于半导体激光器的X射线辐射场探测装置及方法

OPT OpenIR > 半导体激光器专利数据库

	一种基于半导体激光器的X射线辐射场探测装置及方法
其他题名	一种基于半导体激光器的X射线辐射场探测装置及方法
	刘军; 欧阳晓平; 黑东炜; 张忠兵; 谭新建; 陈亮; 翁秀峰
	2016-08-17
专利权人	西北核技术研究所
公开日期	2016-08-17
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明属于脉冲辐射探测领域，具体涉及一种基于半导体激光器的X射线辐射场探测装置及探测方法。该探测装置包括辐射探测器和激光功率测量记录设备；辐射探测器通过光纤或者激光聚焦传输器件与激光功率测量记录设备实现光路连通；辐射探测器包括半导体激光器和为半导体激光器提供预偏置电流的外接电源，外接电源所提供的电流大于或者等于半导体激光器的阈值电流。本发明利用X射线对半导体激光器有源区载流子直接调制，实现对半导体激光器输出功率的扰动，通过测量输出激光信号的变化最终获得X射线脉冲信息，基于该方法的探测系统具有结构简单、成本低廉、超快时间响应以及以激光为信号特征等优点。
其他摘要	本发明属于脉冲辐射探测领域，具体涉及一种基于半导体激光器的X射线辐射场探测装置及探测方法。该探测装置包括辐射探测器和激光功率测量记录设备；辐射探测器通过光纤或者激光聚焦传输器件与激光功率测量记录设备实现光路连通；辐射探测器包括半导体激光器和为半导体激光器提供预偏置电流的外接电源，外接电源所提供的电流大于或者等于半导体激光器的阈值电流。本发明利用X射线对半导体激光器有源区载流子直接调制，实现对半导体激光器输出功率的扰动，通过测量输出激光信号的变化最终获得X射线脉冲信息，基于该方法的探测系统具有结构简单、成本低廉、超快时间响应以及以激光为信号特征等优点。
主权项	一种基于半导体激光器的X射线辐射场探测装置，其特征在于：包括辐射探测器和激光功率测量记录设备；所述辐射探测器通过光纤或者激光聚焦传输器件与激光功率测量记录设备实现光路连通；所述辐射探测器包括半导体激光器和为半导体激光器提供预偏置电流的外接电源，外接电源所提供的电流大于或者等于半导体激光器的阈值电流。
申请日期	2016-04-14
专利号	CN105866822A
专利状态	授权
申请号	CN201610230662.7
公开（公告）号	CN105866822A
IPC 分类号	G01T1/36
专利代理人	陈广民
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/66938
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	西北核技术研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	刘军,欧阳晓平,黑东炜,等. 一种基于半导体激光器的X射线辐射场探测装置及方法. CN105866822A[P]. 2016-08-17.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN105866822A.PDF（170KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文