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记录装置
其他题名记录装置
青山信秀; 秋山良太; 森本宁章; 细川哲夫
2005-05-11
专利权人富士通株式会社
公开日期2005-05-11
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要一种记录装置,对于通过相位凹坑记录ROM信息、在上述相位凹坑的记录区域上重叠记录RAM信息的光信息记录介质,可以进行记录或者再现,具有能进行以下控制的主控制器:检测从光信息记录介质反射的激光的反射光,当在生成与ROM信息和RAM信息对应的信号的记录信息检测系统的输出中,同时具有与ROM信息和RAM信息对应的ROM信号和RAM信号时,利用上述记录信息检测系统的输出中的ROM信号,对半导体激光器的发光进行负反馈控制,并且通过实施控制,从检测上述激光强度的光强度检测系统的输出中获得所读取再现的ROM信号。
其他摘要一种记录装置,对于通过相位凹坑记录ROM信息、在上述相位凹坑的记录区域上重叠记录RAM信息的光信息记录介质,可以进行记录或者再现,具有能进行以下控制的主控制器:检测从光信息记录介质反射的激光的反射光,当在生成与ROM信息和RAM信息对应的信号的记录信息检测系统的输出中,同时具有与ROM信息和RAM信息对应的ROM信号和RAM信号时,利用上述记录信息检测系统的输出中的ROM信号,对半导体激光器的发光进行负反馈控制,并且通过实施控制,从检测上述激光强度的光强度检测系统的输出中获得所读取再现的ROM信号。
主权项一种至少可以进行记录或再现的记录装置,对于通过相位凹坑记 录ROM信息、在上述相位凹坑的记录区域上重叠记录RAM信息的光信息 记录介质,至少可以进行记录或再现,其特征在于,具有: 发射光束的光源; 记录信息检测系统,检测从光信息记录介质反射来的上述光束的反 射光,生成与ROM信息以及RAM信息对应的信号; 光强度检测系统,检测来自上述光源的光束强度; 驱动器,控制上述光源的光束发光量;以及 控制器,当在上述记录信息检测系统的输出中同时具有与ROM信息 以及RAM信息对应的ROM信号以及RAM信号时,利用上述记录信息检测 系统的输出中的ROM信息,通过上述驱动器,对上述光源的发光进行负 反馈控制,并且,通过控制,从上述光强度检测系统的输出中获得被读 取再现的ROM信号。
申请日期2003-01-10
专利号CN1615518A
专利状态失效
申请号CN03802122.6
公开(公告)号CN1615518A
IPC 分类号G11B7/00 | G11B7/005 | G11B7/007 | G11B7/013 | G11B7/126 | G11B7/1263 | G11B11/105 | G11B20/10 | G11B20/12 | G11B20/14
专利代理人李辉
代理机构北京三友知识产权代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/66882
专题半导体激光器专利数据库
作者单位富士通株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
青山信秀,秋山良太,森本宁章,等. 记录装置. CN1615518A[P]. 2005-05-11.
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