Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
记录装置 | |
其他题名 | 记录装置 |
青山信秀; 秋山良太; 森本宁章; 细川哲夫 | |
2005-05-11 | |
专利权人 | 富士通株式会社 |
公开日期 | 2005-05-11 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明申请 |
摘要 | 一种记录装置,对于通过相位凹坑记录ROM信息、在上述相位凹坑的记录区域上重叠记录RAM信息的光信息记录介质,可以进行记录或者再现,具有能进行以下控制的主控制器:检测从光信息记录介质反射的激光的反射光,当在生成与ROM信息和RAM信息对应的信号的记录信息检测系统的输出中,同时具有与ROM信息和RAM信息对应的ROM信号和RAM信号时,利用上述记录信息检测系统的输出中的ROM信号,对半导体激光器的发光进行负反馈控制,并且通过实施控制,从检测上述激光强度的光强度检测系统的输出中获得所读取再现的ROM信号。 |
其他摘要 | 一种记录装置,对于通过相位凹坑记录ROM信息、在上述相位凹坑的记录区域上重叠记录RAM信息的光信息记录介质,可以进行记录或者再现,具有能进行以下控制的主控制器:检测从光信息记录介质反射的激光的反射光,当在生成与ROM信息和RAM信息对应的信号的记录信息检测系统的输出中,同时具有与ROM信息和RAM信息对应的ROM信号和RAM信号时,利用上述记录信息检测系统的输出中的ROM信号,对半导体激光器的发光进行负反馈控制,并且通过实施控制,从检测上述激光强度的光强度检测系统的输出中获得所读取再现的ROM信号。 |
主权项 | 一种至少可以进行记录或再现的记录装置,对于通过相位凹坑记 录ROM信息、在上述相位凹坑的记录区域上重叠记录RAM信息的光信息 记录介质,至少可以进行记录或再现,其特征在于,具有: 发射光束的光源; 记录信息检测系统,检测从光信息记录介质反射来的上述光束的反 射光,生成与ROM信息以及RAM信息对应的信号; 光强度检测系统,检测来自上述光源的光束强度; 驱动器,控制上述光源的光束发光量;以及 控制器,当在上述记录信息检测系统的输出中同时具有与ROM信息 以及RAM信息对应的ROM信号以及RAM信号时,利用上述记录信息检测 系统的输出中的ROM信息,通过上述驱动器,对上述光源的发光进行负 反馈控制,并且,通过控制,从上述光强度检测系统的输出中获得被读 取再现的ROM信号。 |
申请日期 | 2003-01-10 |
专利号 | CN1615518A |
专利状态 | 失效 |
申请号 | CN03802122.6 |
公开(公告)号 | CN1615518A |
IPC 分类号 | G11B7/00 | G11B7/005 | G11B7/007 | G11B7/013 | G11B7/126 | G11B7/1263 | G11B11/105 | G11B20/10 | G11B20/12 | G11B20/14 |
专利代理人 | 李辉 |
代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/66882 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 富士通株式会社 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 青山信秀,秋山良太,森本宁章,等. 记录装置. CN1615518A[P]. 2005-05-11. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN1615518A.PDF(2309KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
个性服务 |
推荐该条目 |
保存到收藏夹 |
查看访问统计 |
导出为Endnote文件 |
谷歌学术 |
谷歌学术中相似的文章 |
[青山信秀]的文章 |
[秋山良太]的文章 |
[森本宁章]的文章 |
百度学术 |
百度学术中相似的文章 |
[青山信秀]的文章 |
[秋山良太]的文章 |
[森本宁章]的文章 |
必应学术 |
必应学术中相似的文章 |
[青山信秀]的文章 |
[秋山良太]的文章 |
[森本宁章]的文章 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论