适用于光电跟踪系统的精跟踪控制算法验证系统及方法

OPT OpenIR > 半导体激光器专利数据库

	适用于光电跟踪系统的精跟踪控制算法验证系统及方法
其他题名	适用于光电跟踪系统的精跟踪控制算法验证系统及方法
	刘永凯; 张玉良; 高世杰; 王建立; 盛磊; 伞晓刚; 曾飞; 耿天文; 陈云善; 张兴亮
	2017-10-20
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2017-10-20
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	适用于光电跟踪设备的精跟踪算法验证系统及验证方法涉及一种精跟踪控制算法的验证系统及方法，该系统包括：半导体激光器、发射光纤、离轴长焦平行光管、扰动模拟器、扰动模拟器驱动器、扰动控制电路板、精跟踪执行机构、精跟踪驱动器、精跟踪控制电路板、主控计算机、同轴望远镜系统、CMOS图像传感器和光斑图像显示器。扰动控制电路板扰动，精跟踪控制电路板依待验证控制算法进行跟踪，分别记录光斑位置信息，并计算未跟踪脱靶量K与跟踪后脱靶量V，计算隔离度评价该算法的有效性，本发明应用于需要使用精跟踪系统的光电设备，使用者可在不具备实际设备调试条件下，进行精跟踪跟踪控制算法实物验证，且系统简单，使用性高。
其他摘要	适用于光电跟踪设备的精跟踪算法验证系统及验证方法涉及一种精跟踪控制算法的验证系统及方法，该系统包括：半导体激光器、发射光纤、离轴长焦平行光管、扰动模拟器、扰动模拟器驱动器、扰动控制电路板、精跟踪执行机构、精跟踪驱动器、精跟踪控制电路板、主控计算机、同轴望远镜系统、CMOS图像传感器和光斑图像显示器。扰动控制电路板扰动，精跟踪控制电路板依待验证控制算法进行跟踪，分别记录光斑位置信息，并计算未跟踪脱靶量K与跟踪后脱靶量V，计算隔离度评价该算法的有效性，本发明应用于需要使用精跟踪系统的光电设备，使用者可在不具备实际设备调试条件下，进行精跟踪跟踪控制算法实物验证，且系统简单，使用性高。
主权项	适用于光电跟踪系统的精跟踪控制算法验证系统，其特征在于，该系统包括：半导体激光器(1)、发射光纤(2)、离轴长焦平行光管(3)、扰动模拟器(4)、扰动模拟器驱动器(5)、扰动控制电路板(6)、精跟踪执行机构(7)、精跟踪驱动器(8)、精跟踪控制电路板(9)，主控计算机(10)、同轴望远镜系统(11)、CMOS图像传感器(12)和光斑图像显示器(13)；半导体激光器(1)发出的光束经发射光纤(2)发射，经离轴长焦平行光管(3)整形扩束输出，经扰动模拟器(4)和精跟踪执行机构(7)反射后进入同轴望远镜系统(11)，经同轴望远镜系统(11)聚焦后成像在CMOS图像传感器(12)上，CMOS图像传感器(12)所采集到的成像信息经精跟踪控制电路板(9)传输至主控计算机(10)与光斑图像显示器(13)，主控计算机(10)对成像信息记录与设置，光斑图像显示器(13)实时显示成像信息；主控计算机(10)选择扰动模式，通过扰动控制电路板(6)生成扰动数据，经扰动模拟器驱动器(5)生成扰动信号，扰动模拟器(4)根据扰动信号对光束扰动，主控计算机(10)将用户编写的待验证算法导入精跟踪控制电路板(9)，经精跟踪驱动器(8)驱动精跟踪执行机构(7)对光束跟踪。
申请日期	2017-07-31
专利号	CN107272664A
专利状态	授权
申请号	CN201710639053.1
公开（公告）号	CN107272664A
IPC 分类号	G05B23/02
专利代理人	陶尊新
代理机构	长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙)
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/65489
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	刘永凯,张玉良,高世杰,等. 适用于光电跟踪系统的精跟踪控制算法验证系统及方法. CN107272664A[P]. 2017-10-20.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN107272664A.PDF（139KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文