OPT OpenIR  > 半导体激光器专利数据库
千瓦级大功率半导体激光器阵列寿命试验在线监测系统
其他题名千瓦级大功率半导体激光器阵列寿命试验在线监测系统
路国光; 黄云; 肖庆中; 雷志锋; 杨少华
2012-07-18
专利权人工业和信息化部电子第五研究所
公开日期2012-07-18
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明公开了一种千瓦级大功率半导体激光器阵列寿命试验在线监测系统,它包括:电流驱动系统,用于提供多工位受测器件的驱动电流;参数测量系统,用于监测寿命试验过程中器件功率或波长随时间的变化信息;温度控制系统,用于对受测器件的稳定温度控制;电路保护系统,用于对半导体激光器阵列寿命试验过程中的工作情况进行检测,当监测到激光器处于非正常工作状态时关断功率输出模块并给计算机控制系统发出异常信号;计算机控制系统,主要用于实现测试参数数据的采集、分析处理、控制、LD安全保护、数据保存。
其他摘要本发明公开了一种千瓦级大功率半导体激光器阵列寿命试验在线监测系统,它包括:电流驱动系统,用于提供多工位受测器件的驱动电流;参数测量系统,用于监测寿命试验过程中器件功率或波长随时间的变化信息;温度控制系统,用于对受测器件的稳定温度控制;电路保护系统,用于对半导体激光器阵列寿命试验过程中的工作情况进行检测,当监测到激光器处于非正常工作状态时关断功率输出模块并给计算机控制系统发出异常信号;计算机控制系统,主要用于实现测试参数数据的采集、分析处理、控制、LD安全保护、数据保存。
主权项一种千瓦级大功率半导体激光器阵列寿命试验在线监测系统,其特征在于,它包括: 电流驱动系统,用于提供多工位受测器件的驱动电流; 参数测量系统,用于监测寿命试验过程中器件功率或波长随时间的变化信息; 温度控制系统,用于对受测器件的稳定温度控制; 电路保护系统,用于对半导体激光器阵列寿命试验过程中的工作情况进行检测,当监测到激光器处于非正常工作状态时关断功率输出模块并给计算机控制系统发出异常信号; 计算机控制系统,主要用于实现测试参数数据的采集、分析处理、控制、LD安全保护、数据保存。
申请日期2011-09-05
专利号CN102590723A
专利状态失效
申请号CN201110261296.9
公开(公告)号CN102590723A
IPC 分类号G01R31/26
专利代理人何传锋 | 程跃华
代理机构广州三环专利代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/65303
专题半导体激光器专利数据库
作者单位工业和信息化部电子第五研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
路国光,黄云,肖庆中,等. 千瓦级大功率半导体激光器阵列寿命试验在线监测系统. CN102590723A[P]. 2012-07-18.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN102590723A.PDF(546KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[路国光]的文章
[黄云]的文章
[肖庆中]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[路国光]的文章
[黄云]的文章
[肖庆中]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[路国光]的文章
[黄云]的文章
[肖庆中]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。