Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
一种滚转角测量方法与装置 | |
其他题名 | 一种滚转角测量方法与装置 |
匡萃方; 冯其波; 张斌; 陈士谦 | |
2005-10-26 | |
专利权人 | 北京交通大学 |
公开日期 | 2005-10-26 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明申请 |
摘要 | 本发明公开了一种滚转角测量方法与装置,属于光电检测技术领域。本发明利用半导体激光经过单模光纤(2)准直,准直透镜(3)扩束,再经过偏振片(4)后,在光轴上依次放置一个四分之一波片(7)及反射镜(8)。通过反射镜使光线两次透过四分之一波片,再经过一个渥拉斯顿棱镜(5)透射到多象限探测器(6)上产生电压差值,通过检测该差值得到滚转角的值。与现有技术相比,测量灵敏度得到提高,光路结构简单,使移动部分不带电缆,方便现场测量,在保证测量精度的前提下,有效降低了成本。 |
其他摘要 | 本发明公开了一种滚转角测量方法与装置,属于光电检测技术领域。本发明利用半导体激光经过单模光纤(2)准直,准直透镜(3)扩束,再经过偏振片(4)后,在光轴上依次放置一个四分之一波片(7)及反射镜(8)。通过反射镜使光线两次透过四分之一波片,再经过一个渥拉斯顿棱镜(5)透射到多象限探测器(6)上产生电压差值,通过检测该差值得到滚转角的值。与现有技术相比,测量灵敏度得到提高,光路结构简单,使移动部分不带电缆,方便现场测量,在保证测量精度的前提下,有效降低了成本。 |
主权项 | 一种滚转角测量方法,包括以下步骤: 1)由半导体激光器(1)发出的激光经过单模光纤(2)准直,准直透镜(3)扩束,再经过偏振片(4)变成线偏振光; 2)该线偏振光透过四分之一波片(7); 3)经过反射镜(8)使光线逆向返回,再次透过四分之一波片(7); 4)该光线经过渥拉斯顿棱镜(5)分束成两束光; 5)用一个探测器(6)探测两分束光,光强转化为电信号,该电信号经过信号处理电路(9)放大运算后送入计算机(10),其输出电压的正负反映滚转角方向,电压绝对值大小反映滚转角的值。 |
申请日期 | 2005-06-07 |
专利号 | CN1687701A |
专利状态 | 失效 |
申请号 | CN200510011877.1 |
公开(公告)号 | CN1687701A |
IPC 分类号 | G01B11/26 | G01D5/26 |
专利代理人 | - |
代理机构 | - |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/65145 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 北京交通大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 匡萃方,冯其波,张斌,等. 一种滚转角测量方法与装置. CN1687701A[P]. 2005-10-26. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN1687701A.PDF(421KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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