OPT OpenIR  > 半导体激光器专利数据库
一种滚转角测量方法与装置
其他题名一种滚转角测量方法与装置
匡萃方; 冯其波; 张斌; 陈士谦
2005-10-26
专利权人北京交通大学
公开日期2005-10-26
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明公开了一种滚转角测量方法与装置,属于光电检测技术领域。本发明利用半导体激光经过单模光纤(2)准直,准直透镜(3)扩束,再经过偏振片(4)后,在光轴上依次放置一个四分之一波片(7)及反射镜(8)。通过反射镜使光线两次透过四分之一波片,再经过一个渥拉斯顿棱镜(5)透射到多象限探测器(6)上产生电压差值,通过检测该差值得到滚转角的值。与现有技术相比,测量灵敏度得到提高,光路结构简单,使移动部分不带电缆,方便现场测量,在保证测量精度的前提下,有效降低了成本。
其他摘要本发明公开了一种滚转角测量方法与装置,属于光电检测技术领域。本发明利用半导体激光经过单模光纤(2)准直,准直透镜(3)扩束,再经过偏振片(4)后,在光轴上依次放置一个四分之一波片(7)及反射镜(8)。通过反射镜使光线两次透过四分之一波片,再经过一个渥拉斯顿棱镜(5)透射到多象限探测器(6)上产生电压差值,通过检测该差值得到滚转角的值。与现有技术相比,测量灵敏度得到提高,光路结构简单,使移动部分不带电缆,方便现场测量,在保证测量精度的前提下,有效降低了成本。
主权项一种滚转角测量方法,包括以下步骤: 1)由半导体激光器(1)发出的激光经过单模光纤(2)准直,准直透镜(3)扩束,再经过偏振片(4)变成线偏振光; 2)该线偏振光透过四分之一波片(7); 3)经过反射镜(8)使光线逆向返回,再次透过四分之一波片(7); 4)该光线经过渥拉斯顿棱镜(5)分束成两束光; 5)用一个探测器(6)探测两分束光,光强转化为电信号,该电信号经过信号处理电路(9)放大运算后送入计算机(10),其输出电压的正负反映滚转角方向,电压绝对值大小反映滚转角的值。
申请日期2005-06-07
专利号CN1687701A
专利状态失效
申请号CN200510011877.1
公开(公告)号CN1687701A
IPC 分类号G01B11/26 | G01D5/26
专利代理人-
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/65145
专题半导体激光器专利数据库
作者单位北京交通大学
推荐引用方式
GB/T 7714
匡萃方,冯其波,张斌,等. 一种滚转角测量方法与装置. CN1687701A[P]. 2005-10-26.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN1687701A.PDF(421KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[匡萃方]的文章
[冯其波]的文章
[张斌]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[匡萃方]的文章
[冯其波]的文章
[张斌]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[匡萃方]的文章
[冯其波]的文章
[张斌]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。