通用半导体激光器电导数测试仪

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	通用半导体激光器电导数测试仪
其他题名	通用半导体激光器电导数测试仪
	孙成林; 门志伟; 周密; 韦珏; 白炳莲; 房文汇
	2014-02-12
专利权人	吉林大学
公开日期	2014-02-12
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明的通用半导体激光器电导数测试仪，属于半导体激光器可靠性测试的技术领域。结构包括计算机（41）、数据采集卡（42）、被测激光器（29）、光电探测器（30）、脉冲压控电流源（43）和采样保持器（46）。数据采集卡（42）通过模拟输出端与数字I/O口与脉冲压控电流源（43）连接；脉冲压控电流源（43）为被测激光器（29）提供驱动电流；数据采集卡（42）的两路模拟输入端分别测量被测激光器（29）的结电压和通过采样保持电路（46）测量被测激光器（29）的光功率。本发明能测量连续半导体激光器、脉冲半导体激光器和激光器芯片的电导数，通用性强；未使用锁相放大器、正弦信号发生器的设备，结构简单而成本低。
其他摘要	本发明的通用半导体激光器电导数测试仪，属于半导体激光器可靠性测试的技术领域。结构包括计算机（41）、数据采集卡（42）、被测激光器（29）、光电探测器（30）、脉冲压控电流源（43）和采样保持器（46）。数据采集卡（42）通过模拟输出端与数字I/O口与脉冲压控电流源（43）连接；脉冲压控电流源（43）为被测激光器（29）提供驱动电流；数据采集卡（42）的两路模拟输入端分别测量被测激光器（29）的结电压和通过采样保持电路（46）测量被测激光器（29）的光功率。本发明能测量连续半导体激光器、脉冲半导体激光器和激光器芯片的电导数，通用性强；未使用锁相放大器、正弦信号发生器的设备，结构简单而成本低。
主权项	一种通用半导体激光器电导数测试仪，结构包括计算机（41）、数据采集卡（42）、被测激光器（29）、光电探测器（30）；计算机（41）与数据采集卡（42）通过数据连接；其特征在于，结构还有脉冲压控电流源（43）和采样保持器（46）；数据采集卡（42）通过模拟输出端与数字I/O口与脉冲压控电流源（43）连接；脉冲压控电流源（43）的输出端连接被测激光器（29），为被测激光器（29）提供驱动电流；同时，被测激光器（29）与数据采集卡（42）的一路模拟输入端连接，由此测量被测激光器（29）的结电压；被测激光器（29）的输出光功率由光电探测器（30）转换为电信号，经采样保持器（46）后连接至数据采集卡（42）的另一路模拟输入端，由此测量被测激光器（29）的光功率。
申请日期	2013-11-05
专利号	CN103576068A
专利状态	失效
申请号	CN201310544214.0
公开（公告）号	CN103576068A
IPC 分类号	G01R31/26 \| G01R27/08
专利代理人	王恩远
代理机构	长春吉大专利代理有限责任公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/65072
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	吉林大学
推荐引用方式 GB/T 7714	孙成林,门志伟,周密,等. 通用半导体激光器电导数测试仪. CN103576068A[P]. 2014-02-12.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN103576068A.PDF（574KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文