一种基于labview的半导体激光器芯片的测试系统

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	一种基于labview的半导体激光器芯片的测试系统
其他题名	一种基于labview的半导体激光器芯片的测试系统
	李志平; 李林森; 张松林; 周君君
	2015-11-11
专利权人	成都超迈光电科技有限公司
公开日期	2015-11-11
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明公开了一种测试系统，尤其是一种基于labview的半导体激光器芯片的测试系统，包括：计算机、光谱仪、四轴电机控制器、四轴电机、模拟电压输出模块、电压转电流模块、多通道模拟信号数据采集模块、温度控制反馈电路、X/Y/Z三维运动平台、T轴一维平移台、抽真空芯片bar条吸附台、激光功率探测器、三维光纤耦合调整台、CCD摄像监控系统、三维芯片探针固定调整架、及USB总线，在本测试系统中单个测试时间尽可能的短，极大地提高生产效率，以适应现代批量生产要求；且可适应不同类型的端面发射半导体激光器和不同性能测试的要求，减少重复开发工作；测试精度高、重复性好，尽量减少人工因素的影响；同时对关心的中间参数也可以进行测试，提高覆盖率。
其他摘要	本发明公开了一种测试系统，尤其是一种基于labview的半导体激光器芯片的测试系统，包括：计算机、光谱仪、四轴电机控制器、四轴电机、模拟电压输出模块、电压转电流模块、多通道模拟信号数据采集模块、温度控制反馈电路、X/Y/Z三维运动平台、T轴一维平移台、抽真空芯片bar条吸附台、激光功率探测器、三维光纤耦合调整台、CCD摄像监控系统、三维芯片探针固定调整架、及USB总线，在本测试系统中单个测试时间尽可能的短，极大地提高生产效率，以适应现代批量生产要求；且可适应不同类型的端面发射半导体激光器和不同性能测试的要求，减少重复开发工作；测试精度高、重复性好，尽量减少人工因素的影响；同时对关心的中间参数也可以进行测试，提高覆盖率。
主权项	一种基于labview的半导体激光器芯片的测试系统，其特征在于：所述测试系统包括有计算机、CCD摄像系统模块、模拟电流输出模块、模拟电压输出模块、电压转换电流模块、数据采集模块、恒温控制反馈信号处理电路、四维移动台控制系统、光纤耦合自动对准模块、光谱分析仪、USB总线、X轴电机控制器、Y轴电机控制器、X、Z轴电机控制器、T轴电机控制器，所述的计算机通过USB总线与四维移动台控制系统连接，四维移动台控制系统与X、Y、Z、T轴电机控制器连接，并且计算机通过USB总线连接恒定模拟电流输出模块、多通道数据采集模块、和温度控制信号反馈电路，所述恒定模拟电流输出模块由模拟电压输出模块和电压转换电流模块组成，所述温度控制信号反馈电路连接有加热电阻、热敏电阻、和TEC，所述光谱仪通过USB总线与计算机连接；基于上述的一种基于labview的半导体激光器芯片的测试系统的测试方法，包括以下步骤： 1)系统的初始化， 2)设置激光器芯片类型、测试项目、参数、和结果判定条件，并设置移动台控制参数和温度控制参数， 3)对测试项目进行调度， 4)对测量数据进行实时采集处理、分析计算、实时显示、存储回放、自动判断和筛选标记。
申请日期	2015-05-05
专利号	CN105044582A
专利状态	失效
申请号	CN201510221988.9
公开（公告）号	CN105044582A
IPC 分类号	G01R31/26
专利代理人	-
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/65017
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	成都超迈光电科技有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	李志平,李林森,张松林,等. 一种基于labview的半导体激光器芯片的测试系统. CN105044582A[P]. 2015-11-11.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN105044582A.PDF（471KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文