平板有色玻璃滤光片均匀性的检测装置和方法

OPT OpenIR > 半导体激光器专利数据库

	平板有色玻璃滤光片均匀性的检测装置和方法
其他题名	平板有色玻璃滤光片均匀性的检测装置和方法
	黄奎喜; 朱宝强; 唐顺兴; 欧阳小平; 刘崇
	2012-02-15
专利权人	中国科学院上海光学精密机械研究所
公开日期	2012-02-15
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	一种平板有色玻璃滤光片均匀性的检测装置和方法，装置包括半导体激光器，沿该半导体激光器输出的激光方向依次是同光轴的扩束器、样品夹持器、成像透镜和CCD探测器，所述的CCD探测器位于所述的成像透镜的焦平面，所述的CCD探测器的输出端接显示器的输入端，所述的样品夹持器供待测的平板有色玻璃滤光片夹持。本发明通过横向移动待测平板有色玻璃滤光片获得动态图像，从而判断有色玻璃滤光片的非均匀性。本发明装置结构简单，测量方法简便，检测效果理想，可用于批量检测。
其他摘要	一种平板有色玻璃滤光片均匀性的检测装置和方法，装置包括半导体激光器，沿该半导体激光器输出的激光方向依次是同光轴的扩束器、样品夹持器、成像透镜和CCD探测器，所述的CCD探测器位于所述的成像透镜的焦平面，所述的CCD探测器的输出端接显示器的输入端，所述的样品夹持器供待测的平板有色玻璃滤光片夹持。本发明通过横向移动待测平板有色玻璃滤光片获得动态图像，从而判断有色玻璃滤光片的非均匀性。本发明装置结构简单，测量方法简便，检测效果理想，可用于批量检测。
主权项	一种平板有色玻璃滤光片均匀性的检测装置，包括半导体激光器（1），其特征在于：沿所述的半导体激光器（1）输出的激光方向依次是同光轴的扩束准直器（2）、样品夹持器（3）、成像透镜（5）和CCD探测器（6），所述的CCD探测器（6）位于所述的成像透镜（5）的焦平面，所述的CCD探测器（6）的输出端接显示器（7），所述的样品夹持器（3）供待测的平板有色玻璃滤光片（4）夹持。
申请日期	2011-07-14
专利号	CN102353526A
专利状态	失效
申请号	CN201110196834.0
公开（公告）号	CN102353526A
IPC 分类号	G01M11/02
专利代理人	张泽纯
代理机构	上海新天专利代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63541
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国科学院上海光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	黄奎喜,朱宝强,唐顺兴,等. 平板有色玻璃滤光片均匀性的检测装置和方法. CN102353526A[P]. 2012-02-15.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN102353526A.PDF（274KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文