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一种激光二极管面阵泵浦均匀性检测装置
其他题名一种激光二极管面阵泵浦均匀性检测装置
樊仲维; 贾丹; 陈艳中; 郭广妍; 康治军; 何建国; 刘昊; 岳龙; 貊泽强; 赵天卓; 王江
2015-11-25
专利权人中国科学院光电研究院
公开日期2015-11-25
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明实施例公开了一种激光二极管面阵泵浦均匀性检测装置,包括:激光二极管面阵;光波导,用于对激光二极管面阵出射的泵浦光进行均匀化;V形反光板,用于将该光波导出射的泵浦光向该光波导的两侧反射出去;激光传输光纤,包括光纤接头与光纤末端,光纤接头固定在V形反光板上,用于接收光波导出射的泵浦光;驱动器,用于驱动V形反光板按照预定方式相对于光波导的出光面进行移动;功率计探头,位于V形反光板的背光侧,用于探测光纤末端出射光的光功率数值;处理器,用于接收光功率数值,并根据预定方式对该光功率数值进行分析以获得均匀性分布。本发明实施例能够将某受光区域的均匀性分布量化处理,并具有检测准确度较高的优点。
其他摘要本发明实施例公开了一种激光二极管面阵泵浦均匀性检测装置,包括:激光二极管面阵;光波导,用于对激光二极管面阵出射的泵浦光进行均匀化;V形反光板,用于将该光波导出射的泵浦光向该光波导的两侧反射出去;激光传输光纤,包括光纤接头与光纤末端,光纤接头固定在V形反光板上,用于接收光波导出射的泵浦光;驱动器,用于驱动V形反光板按照预定方式相对于光波导的出光面进行移动;功率计探头,位于V形反光板的背光侧,用于探测光纤末端出射光的光功率数值;处理器,用于接收光功率数值,并根据预定方式对该光功率数值进行分析以获得均匀性分布。本发明实施例能够将某受光区域的均匀性分布量化处理,并具有检测准确度较高的优点。
主权项一种激光二极管面阵泵浦均匀性检测装置,其特征在于,包括: 激光二极管面阵; 光波导,用于对所述激光二极管面阵出射的泵浦光进行均匀化处理; V形反光板,用于将该光波导出射的泵浦光向该光波导的两侧反射出去; 激光传输光纤,包括光纤接头与光纤末端,所述光纤接头固定在所述V形反光板上,用于接收所述光波导出射的泵浦光; 驱动器,用于驱动所述V形反光板按照预定方式相对于所述光波导的出光面进行移动,以便所述光纤接头按照预定方式接收所述光波导的出光面的预定位置的光; 功率计探头,位于所述V形反光板的背光侧,用于探测所述光纤末端出射光的光功率数值; 处理器,用于接收所述光功率数值,并根据预定方式对该光功率数值进行分析以获得所述均匀性。
申请日期2015-08-29
专利号CN105092216A
专利状态申请中
申请号CN201510544216
公开(公告)号CN105092216A
IPC 分类号G01M11/02
专利代理人-
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63524
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国科学院光电研究院
推荐引用方式
GB/T 7714
樊仲维,贾丹,陈艳中,等. 一种激光二极管面阵泵浦均匀性检测装置. CN105092216A[P]. 2015-11-25.
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