能够抵抗太阳光干扰的视觉检测系统及方法

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	能够抵抗太阳光干扰的视觉检测系统及方法
其他题名	能够抵抗太阳光干扰的视觉检测系统及方法
	赵辉; 陶卫; 刘伟文; 刘炜浩; 杨金峰
	2011-11-30
专利权人	上海砺晟光电技术有限公司
公开日期	2011-11-30
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	一种视觉检测技术领域的能够抵抗太阳光干扰的视觉检测系统及方法，该系统包括：摄像机、激光器、反射标志和处理系统，激光器与摄像机并列设置于检测系统的测量点位置并分别与处理系统相连，反射标志设置于被测目标的任一特征点上并与被测目标之间无相互位移，激光器与处理系统相连并接收控制指令，激光器正对反射标志射出激光并照亮反射标志，摄像机获取反射标志的图像并将图像传输到处理系统，处理系统对图像进行处理并获得反射标志的具体位置。本发明采用半导体激光束进行定向照明，利用具有逆反射性能的薄膜材料制作反射标志，将主动光源的入射光进行定向反射，以窄带滤光有效减小太阳光的影响，显著提高检测系统的稳定性和检测精度。
其他摘要	一种视觉检测技术领域的能够抵抗太阳光干扰的视觉检测系统及方法，该系统包括：摄像机、激光器、反射标志和处理系统，激光器与摄像机并列设置于检测系统的测量点位置并分别与处理系统相连，反射标志设置于被测目标的任一特征点上并与被测目标之间无相互位移，激光器与处理系统相连并接收控制指令，激光器正对反射标志射出激光并照亮反射标志，摄像机获取反射标志的图像并将图像传输到处理系统，处理系统对图像进行处理并获得反射标志的具体位置。本发明采用半导体激光束进行定向照明，利用具有逆反射性能的薄膜材料制作反射标志，将主动光源的入射光进行定向反射，以窄带滤光有效减小太阳光的影响，显著提高检测系统的稳定性和检测精度。
主权项	一种能够抵抗太阳光干扰的视觉检测系统，包括：摄像机、激光器、反射标志和处理系统，其特征在于：激光器与摄像机并列设置于检测系统的测量点位置并分别与处理系统相连，反射标志设置于被测目标的任一特征点上并与被测目标之间无相互位移，激光器与处理系统相连并接收控制指令，激光器正对反射标志射出激光并照亮反射标志，摄像机获取反射标志的图像并将图像传输到处理系统，处理系统对图像进行处理并获得反射标志的具体位置。
申请日期	2011-04-28
专利号	CN102261910A
专利状态	授权
申请号	CN20111010819X
公开（公告）号	CN102261910A
IPC 分类号	G01C11/02 \| G01C11/04 \| G01C15/00
专利代理人	王锡麟 \| 王桂忠
代理机构	上海交达专利事务所
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63237
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	上海砺晟光电技术有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	赵辉,陶卫,刘伟文,等. 能够抵抗太阳光干扰的视觉检测系统及方法. CN102261910A[P]. 2011-11-30.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN102261910A.PDF（511KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文