Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 光学パッケージ、光学ユニット、光走査装置、画像形成装置 | |
| 其他题名 | 光学パッケージ、光学ユニット、光走査装置、画像形成装置 |
| 廣居 正樹; 藤井 俊茂; 佐々木 俊英 | |
| 2014-07-24 | |
| 专利权人 | 株式会社リコー |
| 公开日期 | 2014-07-24 |
| 授权国家 | 日本 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 摘要 | 【課題】認識精度の低下を抑制可能な実装用の基準パターンを備えた光学パッケージ等を提供する。 【解決手段】本光学パッケージは、凹部が設けられた基体と、前記凹部の底部に実装された発光素子及び受光素子と、を有し、前記凹部の底部には、前記発光素子及び前記受光素子を実装するための基準となる基準パターンが設けられており、前記基準パターンは、直線部を含み、前記直線部は、平面視において、前記発光素子の一辺又は前記受光素子の一辺のうち何れか一辺と対向するように配置され、前記直線部の長手方向の長さは、前記何れか一辺の長さ以上に設定されている。 【選択図】図1 |
| 其他摘要 | 要解决的问题：提供具有用于安装的参考图案的光学封装等，其可以抑制识别精度的劣化。 解决方案：该光学组件具有设置有凹部的基板，安装在凹部底部的发光元件和光接收元件，并且在凹部的底部，发光元件和光接收元件其中，参考图案包括直线部分，并且直线部分在平面图中形成在发光元件的一侧或光接收元件的一侧并且，线性部分的纵向长度设定为等于或长于任何一个边的长度。 点域1 |
| 主权项 | - |
| 申请日期 | 2013-01-08 |
| 专利号 | JP2014135312A |
| 专利状态 | 授权 |
| 申请号 | JP2013000997 |
| 公开（公告）号 | JP2014135312A |
| IPC 分类号 | H01S5/022 | B41J2/44 | H01L31/02 |
| 专利代理人 | 伊東 忠重 | 伊東 忠彦 |
| 代理机构 | - |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/61825 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 株式会社リコー |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 廣居 正樹,藤井 俊茂,佐々木 俊英. 光学パッケージ、光学ユニット、光走査装置、画像形成装置. JP2014135312A[P]. 2014-07-24. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| JP2014135312A.PDF（214KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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