Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
光学走査装置およびその製造方法 | |
其他题名 | 光学走査装置およびその製造方法 |
永利 潤 | |
2017-12-28 | |
专利权人 | キヤノン株式会社 |
公开日期 | 2017-12-28 |
授权国家 | 日本 |
专利类型 | 发明申请 |
摘要 | 【課題】 本発明は、迷光が検出手段に入射されない光学走査装置を提供する。 【解決手段】 半導体レーザユニット1と、該半導体レーザユニット1からのレーザ光束Lを偏向走査する光偏向器5と、該光偏向器5で偏向走査されたレーザ光束Lを感光ドラム8上に結像させる走査レンズ7と、該感光ドラム8上でのレーザ光束Lの書き出し開始位置を決定するために、光偏向器5で偏向走査されたレーザ光束Lを検出するBDセンサ6と、光偏向器5が収容される光学箱9と、を備えた光学走査装置101であって、光学箱9のうち、光偏向器5により偏向走査されたレーザ光束Lが走査する領域が粗面化されていることを特徴とする。 【選択図】 図3 |
其他摘要 | 要解决的问题:提供一种光学扫描装置,其中杂散光不入射到检测装置上。 一的半导体激光器单元1中,用于聚焦被偏转并通过光学偏转器5扫描的感光鼓8上的激光束L偏转,并从1扫描激光束L,扫描透镜的半导体激光器单元的光学偏转器57,为了确定激光的写起始位置束L在上述感光鼓8,B,用于检测由光偏转器5偏转并扫描的激光束LD传感器6和光学盒9,其中光学偏转器5容纳在光学盒9中,由光学偏转器5扫描偏转和扫描的激光束L扫描该地区变得粗糙。 发明背景 |
主权项 | - |
申请日期 | 2016-06-22 |
专利号 | JP2017227739A |
专利状态 | 申请中 |
申请号 | JP2016123107 |
公开(公告)号 | JP2017227739A |
IPC 分类号 | G02B26/10 | B41J2/47 | G03G15/04 | H04N1/113 |
专利代理人 | - |
代理机构 | 特許業務法人中川国際特許事務所 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/59089 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | キヤノン株式会社 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 永利 潤. 光学走査装置およびその製造方法. JP2017227739A[P]. 2017-12-28. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
JP2017227739A.PDF(121KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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