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光ディスク装置及び温度検出方法
其他题名光ディスク装置及び温度検出方法
金子 真二
2008-09-18
专利权人SONY CORP
公开日期2008-09-18
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要【課題】光ディスク装置のレーザダイオードの温度を、簡易な構成で確実に検出する。 【解決手段】レーザダイオードのパッケージ内に設けられ、当該レーザダイオード25の出射光量を検出するためのフォトダイオード26と、フォトダイオード26に順方向電流を供給する電流供給手段32と、フォトダイオード26に順方向電流が流れた際の順方向降下電圧を検出する降下電圧検出手段12と、フォトダイオード26に順方向電流を流した際の順方向降下電圧と温度との関係を示す変換係数と、検出した順方向降下電圧とに基づいて、レーザダイオード25の温度を算出する温度算出手段12とを設けた。 【選択図】図9
其他摘要要解决的问题:通过简单的结构可靠地检测光盘装置的激光二极管的温度。 ŽSOLUTION:在激光二极管的封装中,提供用于检测从激光二极管25发射的光量的光电二极管26,向光电二极管26提供正向电流的电流供应装置32,向前检测的电压降检测装置12当正向电流流过光电二极管26时的电压降,以及温度计算装置12根据指示正向电压降和正向电流流过时的温度之间关系的转换系数来计算激光二极管25的温度光电二极管26和检测到的前向下降电压。 Ž
主权项-
申请日期2007-03-02
专利号JP2008217898A
专利状态失效
申请号JP2007053198
公开(公告)号JP2008217898A
IPC 分类号G11B7/13 | G11B7/125
专利代理人田辺 恵基
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/58021
专题半导体激光器专利数据库
作者单位SONY CORP
推荐引用方式
GB/T 7714
金子 真二. 光ディスク装置及び温度検出方法. JP2008217898A[P]. 2008-09-18.
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