基于微纳谐振腔实现低功率全光量化的方法和装置

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	基于微纳谐振腔实现低功率全光量化的方法和装置
其他题名	基于微纳谐振腔实现低功率全光量化的方法和装置
	刘香莲; 王云才; 李璞; 郭龑强; 郭晓敏; 韩韬
	2017-04-26
专利权人	太原理工大学
公开日期	2017-04-26
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明公开了一种基于微纳谐振腔实现低功率全光量化的方法，是现有的全光采样技术和微纳谐振腔的谐振波长与入射光脉冲的功率成线性关系相结合，利用滤波器进行光谱编码，实现全光量化。本发明所述的装置包括基于半导体光放大器的非线性偏振旋转效应的全光采样系统、经过强度调制的采样脉冲光谱展宽系统、基于微纳谐振腔的光学量化系统和光学编码系统；将模拟光信号加载到采样光脉冲序列的强度包络上实现光采样，采样后的光脉冲首先经过光谱展宽系统展宽，然后通过微纳谐振腔实现光学量化，最后经过光学编码系统编码。本发明不仅大大降低了对采样脉冲功率的要求，而且突破了现有的全光量化技术缺点，有望实现高速、高精度的全光量化。
其他摘要	本发明公开了一种基于微纳谐振腔实现低功率全光量化的方法，是现有的全光采样技术和微纳谐振腔的谐振波长与入射光脉冲的功率成线性关系相结合，利用滤波器进行光谱编码，实现全光量化。本发明所述的装置包括基于半导体光放大器的非线性偏振旋转效应的全光采样系统、经过强度调制的采样脉冲光谱展宽系统、基于微纳谐振腔的光学量化系统和光学编码系统；将模拟光信号加载到采样光脉冲序列的强度包络上实现光采样，采样后的光脉冲首先经过光谱展宽系统展宽，然后通过微纳谐振腔实现光学量化，最后经过光学编码系统编码。本发明不仅大大降低了对采样脉冲功率的要求，而且突破了现有的全光量化技术缺点，有望实现高速、高精度的全光量化。
主权项	一种基于微纳谐振腔实现低功率全光量化装置，其特征在于：包括全光采样器（1），所述全光采样器（1）的输出端连接采样后光脉冲光谱展宽装置（2）的输入端，采样后光脉冲光谱展宽装置（2）的输出端连接全光量化器（3）的输入端，所述全光量化器（3）的输出端连接光谱编码器（4）的输入端。
申请日期	2017-02-28
专利号	CN106602403A
专利状态	申请中
申请号	CN201710114376
公开（公告）号	CN106602403A
IPC 分类号	H01S5/10
专利代理人	朱源 \| 武建云
代理机构	太原科卫专利事务所(普通合伙)
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/57888
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	太原理工大学
推荐引用方式 GB/T 7714	刘香莲,王云才,李璞,等. 基于微纳谐振腔实现低功率全光量化的方法和装置. CN106602403A[P]. 2017-04-26.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN106602403A.PDF（122KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文