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面射型雷射陣列、檢測裝置及雷射裝置
其他题名面射型雷射陣列、檢測裝置及雷射裝置
沼田雅之; 池應敏行; 泉谷一磨; 植野剛; 軸谷直人
2019-10-01
专利权人日商理光股份有限公司
公开日期2019-10-01
授权国家中国台湾
专利类型发明申请
摘要一種面射型雷射陣列,包括:複數個面射型雷射元件、複數個光學元件、以及一遮光構件。該複數個面射型雷射元件佈置在一基板的一第一表面上,並且被配置以在橫過該第一表面的方向上發光。該複數個光學元件佈置在與該基板的該第一表面相對的一第二表面上,以對應該等面射型雷射元件,並且被配置以改變光的輻射角度。該遮光構件佈置在該基板的該第二表面上的該等光學元件之間的區域中。
其他摘要一種面射型雷射陣列,包括:複數個面射型雷射元件、複數個光學元件、以及一遮光構件。該複數個面射型雷射元件佈置在一基板的一第一表面上,並且被配置以在橫過該第一表面的方向上發光。該複數個光學元件佈置在與該基板的該第一表面相對的一第二表面上,以對應該等面射型雷射元件,並且被配置以改變光的輻射角度。該遮光構件佈置在該基板的該第二表面上的該等光學元件之間的區域中。
主权项-
申请日期2019-03-15
专利号TW201939833A
专利状态申请中
申请号TW108108936
公开(公告)号TW201939833A
IPC 分类号H01S5/42 | H01S5/026 | H01S5/183
专利代理人侯德銘
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/57506
专题半导体激光器专利数据库
作者单位日商理光股份有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
沼田雅之,池應敏行,泉谷一磨,等. 面射型雷射陣列、檢測裝置及雷射裝置. TW201939833A[P]. 2019-10-01.
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