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一种半导体激光器材料的制备方法
其他题名一种半导体激光器材料的制备方法
王庶民; 王畅
2018-04-13
专利权人超晶科技(北京)有限公司
公开日期2018-04-13
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明公开了一种半导体激光器材料的制备方法,包括:提供半导体供体衬底,并在该供体基底上外延生长缓冲层,在所述缓冲层上生长牺牲层,在所述牺牲层上生长半导体薄膜层;在半导体薄膜层侧进行离子注入,在所述牺牲层内形成缺陷层;提供柔性衬底,并使所述半导体薄膜层和柔性衬底键合;对缺陷层进行退火处理,将顶层薄膜沿牺牲层从供体衬底上剥离,得到含有供体衬底的第一基底和含有柔性衬底的第二基底,并去除第二基底上的牺牲层,得到键合有半导体薄膜层的柔性基底。本发明的方法为供体衬底可重复利用,省去减薄工艺的半导体激光器材料制备方法。
其他摘要本发明公开了一种半导体激光器材料的制备方法,包括:提供半导体供体衬底,并在该供体基底上外延生长缓冲层,在所述缓冲层上生长牺牲层,在所述牺牲层上生长半导体薄膜层;在半导体薄膜层侧进行离子注入,在所述牺牲层内形成缺陷层;提供柔性衬底,并使所述半导体薄膜层和柔性衬底键合;对缺陷层进行退火处理,将顶层薄膜沿牺牲层从供体衬底上剥离,得到含有供体衬底的第一基底和含有柔性衬底的第二基底,并去除第二基底上的牺牲层,得到键合有半导体薄膜层的柔性基底。本发明的方法为供体衬底可重复利用,省去减薄工艺的半导体激光器材料制备方法。
主权项一种半导体激光器材料的制备方法,包括: 提供半导体供体衬底,并在该供体基底上外延生长缓冲层,在所述缓冲层上生长牺牲层,在所述牺牲层上生长半导体薄膜层; 在半导体薄膜层侧进行离子注入,在所述牺牲层内形成缺陷层; 提供柔性衬底,并使所述半导体薄膜层和柔性衬底键合; 对缺陷层进行退火处理,将顶层薄膜沿牺牲层从供体衬底上剥离,得到含有供体衬底的第一基底和含有柔性衬底的第二基底,并去除第二基底上的牺牲层,得到键合有半导体薄膜层的柔性基底。
申请日期2017-06-28
专利号CN107910750A
专利状态申请中
申请号CN201710509143.9
公开(公告)号CN107910750A
IPC 分类号H01S5/343
专利代理人陈琳琳 | 李彪
代理机构北京方安思达知识产权代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56721
专题半导体激光器专利数据库
作者单位超晶科技(北京)有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
王庶民,王畅. 一种半导体激光器材料的制备方法. CN107910750A[P]. 2018-04-13.
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