一种光场高阶相干度及噪声特性的探测装置

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	一种光场高阶相干度及噪声特性的探测装置
其他题名	一种光场高阶相干度及噪声特性的探测装置
	郭龑强; 郭晓敏; 姬玉林; 李璞; 刘香莲
	2018-03-30
专利权人	太原理工大学
公开日期	2018-03-30
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明属于光场微观统计特性的研究领域，提出了一种单光子水平上的光场高阶相干度及噪声特性研究装置，包括半导体激光器、偏振控制器、环形器、光纤耦合器、可调光纤衰减器、隔离器，半波片、偏振分束棱镜、第一准直透镜、光纤、第二准直透镜、光衰减器、聚焦透镜、毛玻璃片、光阑、滤波片、衰减片、第一分束镜、第二分束镜、第三分束镜、第一单光子探测器、第二单光子探测器、第三单光子探测器、第四单光子探测器和数据采集系统；数据采集系统与第一单光子探测器、第二单光子探测器、第三单光子探测器、第四单光子探测器的信号输出端连接；本发明可以研究光场高阶相干度及噪声特性，可以应用于光场特性研究领域。
其他摘要	本发明属于光场微观统计特性的研究领域，提出了一种单光子水平上的光场高阶相干度及噪声特性研究装置，包括半导体激光器、偏振控制器、环形器、光纤耦合器、可调光纤衰减器、隔离器，半波片、偏振分束棱镜、第一准直透镜、光纤、第二准直透镜、光衰减器、聚焦透镜、毛玻璃片、光阑、滤波片、衰减片、第一分束镜、第二分束镜、第三分束镜、第一单光子探测器、第二单光子探测器、第三单光子探测器、第四单光子探测器和数据采集系统；数据采集系统与第一单光子探测器、第二单光子探测器、第三单光子探测器、第四单光子探测器的信号输出端连接；本发明可以研究光场高阶相干度及噪声特性，可以应用于光场特性研究领域。
主权项	一种光场高阶相干度及噪声特性的探测装置，其特征在于，包括半导体激光器(1)、偏振控制器(2)、环形器(3)、光纤耦合器(4)、可调光纤衰减器(5)、隔离器(6)，半波片(7)、偏振分束棱镜(8)、第一准直透镜(9)、光纤(10)、第二准直透镜(11)、光衰减器(12)、聚焦透镜(15)、毛玻璃片(16)、光阑(17)、滤波片(18)、衰减片(19)、第一分束镜(20)、第二分束镜(21)、第三分束镜(24)、第一单光子探测器(22)、第二单光子探测器(23)、第三单光子探测器(25)、第四单光子探测器(26)和数据采集系统(27)；所述半导体激光器(1)产生的光经偏振控制器(2)后依次入射到环形器(3)和光纤耦合器(4)，从光纤耦合器(4)出射的光被分为两束，一束经可调光纤衰减器(5)后返回到环形器(3)，并经偏振控制器(2)反馈给半导体激光器(1)，另一束经隔离器(6)、半波片(7)、偏振分束棱镜(8)后被分为两束，一束作为本底光由探测器探测，另一束由第一准直透镜(9)耦合进光纤(10)之后再经第二准直透镜(11)入射到光衰减器(12)，经过光衰减器(12)的光由聚焦透镜(15)会聚后入射到旋转速度可调的毛玻璃片(16)上，被毛玻璃片(16)散射的光经光阑(17)、滤波片(18)后由第一分束镜(20)分成两束光，其中一束经第二分束镜(21)后再分成两束，分别入射到第一单光子探测器(22)和第二单光子探测器(23)，另一束经第三分束镜(24)后再分成两束，分别入射到第三单光子探测器(25)和第四单光子探测器(26)；所述数据采集系统(27)与所述第一单光子探测器(22)、第二单光子探测器(23)、第三单光子探测器(25)、第四单光子探测器(26)的信号输出端连接，用于接收所述第一单光子探测器(22)、第二单光子探测器(23)、第三单光子探测器(25)、第四单光子探测器(26)分别传输的光子数n1、n2、n3、n4，并根据光子数n1、n2、n3、n4计算光场的二阶相干度、三阶相干度和四阶相干度。
申请日期	2017-10-13
专利号	CN107860470A
专利状态	申请中
申请号	CN201710949944.7
公开（公告）号	CN107860470A
IPC 分类号	G01J1/42
专利代理人	任林芳
代理机构	太原晋科知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56702
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	太原理工大学
推荐引用方式 GB/T 7714	郭龑强,郭晓敏,姬玉林,等. 一种光场高阶相干度及噪声特性的探测装置. CN107860470A[P]. 2018-03-30.

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CN107860470A.PDF（700KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文