基于线结构光的360°轮廓测量装置及方法

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	基于线结构光的360°轮廓测量装置及方法
其他题名	基于线结构光的360°轮廓测量装置及方法
	余学才; 刘光明; 马飞; 鲁楷锋
	2018-03-02
专利权人	成都多极子科技有限公司
公开日期	2018-03-02
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明公开了一种基于线结构光的360°轮廓测量装置及方法，装置包括三只均匀分布在被测物体周围的半导体线激光器，三个均匀分布在被测物体周围的摄像机，用于对摄像机采集到的图像进行图像处理的计算机；半导体激光器分别通过并口连接计算机，摄像机分别通过图像采集卡与计算机相连。本发明采用三个线结构半导体激光器和三个工业摄像机实现快速横截面轮廓采集，更客观、准确地反映了被测截面的测量信息，测量无需旋转光学系统平台，简化了系统的结构；不用进行复杂的坐标转换和旋转，大大降低了融合错位所造成测量误差的可能性；本发明的360°轮廓测量过程只需要对三幅图片进行融合，融合方法更简单高效。
其他摘要	本发明公开了一种基于线结构光的360°轮廓测量装置及方法，装置包括三只均匀分布在被测物体周围的半导体线激光器，三个均匀分布在被测物体周围的摄像机，用于对摄像机采集到的图像进行图像处理的计算机；半导体激光器分别通过并口连接计算机，摄像机分别通过图像采集卡与计算机相连。本发明采用三个线结构半导体激光器和三个工业摄像机实现快速横截面轮廓采集，更客观、准确地反映了被测截面的测量信息，测量无需旋转光学系统平台，简化了系统的结构；不用进行复杂的坐标转换和旋转，大大降低了融合错位所造成测量误差的可能性；本发明的360°轮廓测量过程只需要对三幅图片进行融合，融合方法更简单高效。
主权项	基于线结构光的360°轮廓测量装置，其特征在于，包括三只均匀分布在被测物体周围，用于发出能够覆盖被测物体360°完整截面的扇形激光的半导体线激光器；三个均匀分布在被测物体周围，用于采集被测物体360°完整截面的激光照明图像的摄像机；用于对摄像机采集到的图像进行图像处理的计算机；半导体激光器分别通过并口连接计算机，摄像机分别通过图像采集卡与计算机相连。
申请日期	2017-10-11
专利号	CN107747914A
专利状态	申请中
申请号	CN201710940232.9
公开（公告）号	CN107747914A
IPC 分类号	G01B11/25
专利代理人	-
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56660
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	成都多极子科技有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	余学才,刘光明,马飞,等. 基于线结构光的360°轮廓测量装置及方法. CN107747914A[P]. 2018-03-02.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN107747914A.PDF（794KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文