一种确定半导体激光器储备池工作点的方法

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	一种确定半导体激光器储备池工作点的方法
其他题名	一种确定半导体激光器储备池工作点的方法
	方捻; 花飞; 王陆唐
	2019-09-17
专利权人	上海大学
公开日期	2019-09-17
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明公开了一种确定半导体激光器储备池工作点的方法。设置响应激光器的偏置电流在阈值电流的±5%之间，驱动激光器与响应激光器的频率失谐在‑5GHz~0GHz之间；根据连续光注入下响应激光器的驰豫振荡周期t0设置虚节点间隔q=0.2t0，再根据所需虚节点数M，确定反馈延迟时间td=(M+1)q；初始化注入强度kinj和反馈强度kf，把连续光注入响应激光器，判断其非线性状态，如果不是注入锁定状态，则逐渐增加kinj，反之则减少kinj，直到找到注入锁定状态下的最小kinjj；在此参数下对储备池进行训练，然后把一个校验信号输入到储备池中，计算其测试结果的误差；同比例缩放kf和kinj，对比所取得的误差，最小误差对应的kf和kinj即是最佳参数，至此，半导体激光器储备池的工作点参数全部确定。
其他摘要	本发明公开了一种确定半导体激光器储备池工作点的方法。设置响应激光器的偏置电流在阈值电流的±5%之间，驱动激光器与响应激光器的频率失谐在‑5GHz~0GHz之间；根据连续光注入下响应激光器的驰豫振荡周期t₀设置虚节点间隔q=0.2t₀，再根据所需虚节点数M，确定反馈延迟时间t_d=(M+1)q；初始化注入强度k_inj和反馈强度k_f，把连续光注入响应激光器，判断其非线性状态，如果不是注入锁定状态，则逐渐增加k_inj，反之则减少k_inj，直到找到注入锁定状态下的最小k_injj；在此参数下对储备池进行训练，然后把一个校验信号输入到储备池中，计算其测试结果的误差；同比例缩放k_f和k_inj，对比所取得的误差，最小误差对应的k_f和k_inj即是最佳参数，至此，半导体激光器储备池的工作点参数全部确定。
主权项	一种确定半导体激光器储备池工作点的方法，其特征在于，包括如下步骤： 1)设置响应激光器的偏置电流在阈值电流的±5％之间，驱动激光器与响应激光器的频率失谐在-5GHz～0GHz之间； 2)根据连续光注入下响应激光器的驰豫振荡周期τ0设置虚节点间隔θ＝0.2τ0，再根据需要的虚节点数M，确定反馈延迟时间τd＝(M+1)θ； 3)初始化注入强度和反馈强度，把连续光注入响应激光器，判断响应激光器的工作状态，如果不是注入锁定状态，则逐渐增加注入强度，反之则减少注入强度，直到找到注入锁定状态下的最小注入强度； 4)在此参数下对储备池进行训练，然后把一个校验信号输入到储备池中，计算其测试结果的误差； 5)同比例缩放反馈强调度和注入强度，对比所取得的误差，最小误差对应的注入强度和反馈强度即是最佳的，至此，半导体激光器储备池的工作点参数全部确定。
申请日期	2019-05-13
专利号	CN110247298A
专利状态	申请中
申请号	CN201910391868.1
公开（公告）号	CN110247298A
IPC 分类号	H01S5/06 \| H01S5/065
专利代理人	陆聪明
代理机构	上海上大专利事务所(普通合伙)
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/55529
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	上海大学
推荐引用方式 GB/T 7714	方捻,花飞,王陆唐. 一种确定半导体激光器储备池工作点的方法. CN110247298A[P]. 2019-09-17.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN110247298A.PDF（422KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文