一种半导体激光器非线性调频预校正方法

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	一种半导体激光器非线性调频预校正方法
其他题名	一种半导体激光器非线性调频预校正方法
	郑刚; 张雄星; 孙彬; 郭峰; 井李强; 王欢
	2019-08-20
专利权人	西安工业大学
公开日期	2019-08-20
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明涉及光学调频连续波干涉测量技术领域，具体涉及一种半导体激光器非线性调频预校正方法。本发明通过测出每个调制周期中干涉信号波形的极值点在时间轴上的实际位置及其与理想位置的偏差，来确定半导体激光器调频非线性大小，再根据此偏差平移激光调制信号波形对应点在时间轴上的位置，经过分段插值或非线性拟合得到校正后的激光器调制波形，从而实现对半导体激光器调频连续波干涉非线性的校正。本方法可以利用计算机辅助检测，通过反复迭代得到最佳调制波形，从而提高非线性矫正精度，可用于各种基于半导体激光器的调频连续波干涉测量系统，提高其测量精度。
其他摘要	本发明涉及光学调频连续波干涉测量技术领域，具体涉及一种半导体激光器非线性调频预校正方法。本发明通过测出每个调制周期中干涉信号波形的极值点在时间轴上的实际位置及其与理想位置的偏差，来确定半导体激光器调频非线性大小，再根据此偏差平移激光调制信号波形对应点在时间轴上的位置，经过分段插值或非线性拟合得到校正后的激光器调制波形，从而实现对半导体激光器调频连续波干涉非线性的校正。本方法可以利用计算机辅助检测，通过反复迭代得到最佳调制波形，从而提高非线性矫正精度，可用于各种基于半导体激光器的调频连续波干涉测量系统，提高其测量精度。
主权项	一种半导体激光器非线性调频预校正方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤一：测量每个调制周期中干涉信号波形的所有极值点在时间轴上实际位置与理想位置的偏差，确定半导体激光器调频非线性大小；步骤二：根据此偏差平移激光调制信号波形中时间轴上对应点的位置坐标；步骤三：根据步骤二提供的坐标，利用分段插值或非线性拟合得到校正后的激光器调制信号波形；所述半导体激光器驱动信号是由微处理器读取数据表格经过DA电路转换得到，数据表格是由线性插值构成，干涉信号是经过光电探测器转换成电信号再经过AD电路转换得到数字信号。
申请日期	2019-06-11
专利号	CN110146012A
专利状态	申请中
申请号	CN201910502620.8
公开（公告）号	CN110146012A
IPC 分类号	G01B9/02
专利代理人	黄秦芳
代理机构	西安新思维专利商标事务所有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/55464
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	西安工业大学
推荐引用方式 GB/T 7714	郑刚,张雄星,孙彬,等. 一种半导体激光器非线性调频预校正方法. CN110146012A[P]. 2019-08-20.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN110146012A.PDF（823KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文