OPT OpenIR  > 半导体激光器专利数据库
多工位半导体激光器可靠性测试系统
其他题名多工位半导体激光器可靠性测试系统
苏萌; 路国光; 徐华伟; 彭琦; 黄凯; 黄林轶
2019-06-14
专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
公开日期2019-06-14
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明公开了一种多工位半导体激光器可靠性测试系统,其中电源控制模块与激光电源连接,用于将激光电源的输出分多路并对应提供给每个激光器;电参数采集板与电源控制模块连接,用于采集电源控制模块的多路输出的电参数,作为对应激光器的电参数传送到工控机;温度控制模块用于控制激光器的温度;温度探测器用于检测激光器的温度并将温度数据传送到工控机;光探测模块用于接收激光器发射过来的光,采集激光器的功率数据,并将采集到的功率数据传送到工控机;工控机接收电参数、温度数据和功率数据,对激光器的可靠性进行监控。本发明适合于多工位小功率激光器的自动测试,可靠性高。
其他摘要本发明公开了一种多工位半导体激光器可靠性测试系统,其中电源控制模块与激光电源连接,用于将激光电源的输出分多路并对应提供给每个激光器;电参数采集板与电源控制模块连接,用于采集电源控制模块的多路输出的电参数,作为对应激光器的电参数传送到工控机;温度控制模块用于控制激光器的温度;温度探测器用于检测激光器的温度并将温度数据传送到工控机;光探测模块用于接收激光器发射过来的光,采集激光器的功率数据,并将采集到的功率数据传送到工控机;工控机接收电参数、温度数据和功率数据,对激光器的可靠性进行监控。本发明适合于多工位小功率激光器的自动测试,可靠性高。
主权项一种多工位半导体激光器可靠性测试系统,其特征在于,包括: 工控机、温度控制模块、温度探测器、激光电源、电源控制模块、电参数采集板和光探测模块, 所述电源控制模块与所述激光电源连接,用于将所述激光电源的输出分多路并对应提供给每个激光器; 所述电参数采集板与所述电源控制模块连接,用于采集所述电源控制模块的多路输出的电参数,作为对应激光器的电参数传送到所述工控机; 所述温度控制模块用于控制所述激光器的温度; 所述温度探测器用于检测所述激光器的温度并将温度数据传送到所述工控机; 所述光探测模块用于接收所述激光器发射过来的光,采集所述激光器的功率数据,并将采集到的功率数据传送到所述工控机; 所述工控机接收来自所述电参数采集板的电参数、来自所述温度探测器的温度数据和来自所述光探测模块的功率数据,对所述激光器的可靠性进行监控。
申请日期2019-02-18
专利号CN109888610A
专利状态申请中
申请号CN201910124254.7
公开(公告)号CN109888610A
IPC 分类号H01S5/00 | G01D21/02
专利代理人付建军
代理机构北京市隆安律师事务所
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/55305
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
推荐引用方式
GB/T 7714
苏萌,路国光,徐华伟,等. 多工位半导体激光器可靠性测试系统. CN109888610A[P]. 2019-06-14.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN109888610A.PDF(581KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[苏萌]的文章
[路国光]的文章
[徐华伟]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[苏萌]的文章
[路国光]的文章
[徐华伟]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[苏萌]的文章
[路国光]的文章
[徐华伟]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。