一种新型原子磁强计装置及检测方法

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	一种新型原子磁强计装置及检测方法
其他题名	一种新型原子磁强计装置及检测方法
	李松松; 张奕; 田原; 陈杰华; 顾思洪
	2019-06-04
专利权人	中国科学院武汉物理与数学研究所
公开日期	2019-06-04
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明公开了一种新型原子磁强计装置，包括半导体激光器，半导体激光器的输出的初始线偏光依次经过光斑整形器、隔离器、第一半波片后获得调节偏振面后的光束，调节偏振面后的光束经过第一偏振分光棱镜后分为稳频光束和待调制光束，稳频光束输入到稳频环路，待调制光束依次经过电光调制器、正交偏振仪、原子气室后由第三偏振分光棱镜分为第一探测光束和第二探测光束，第一探测光束和第二探测光束分别由第一探测器和第二探测器探测，本发明还公开了一种新型原子磁强的检测方法。本发明在精简了磁强计的结构，减小了磁强计的体积与成本的基础上提高了磁强计的灵敏度。
其他摘要	本发明公开了一种新型原子磁强计装置，包括半导体激光器，半导体激光器的输出的初始线偏光依次经过光斑整形器、隔离器、第一半波片后获得调节偏振面后的光束，调节偏振面后的光束经过第一偏振分光棱镜后分为稳频光束和待调制光束，稳频光束输入到稳频环路，待调制光束依次经过电光调制器、正交偏振仪、原子气室后由第三偏振分光棱镜分为第一探测光束和第二探测光束，第一探测光束和第二探测光束分别由第一探测器和第二探测器探测，本发明还公开了一种新型原子磁强的检测方法。本发明在精简了磁强计的结构，减小了磁强计的体积与成本的基础上提高了磁强计的灵敏度。
主权项	一种新型原子磁强计装置，包括半导体激光器(1)，其特征在于，半导体激光器(1)的输出的初始线偏光(2)经过光斑整形器(3)后产生圆形光斑线偏光(4)，圆形光斑线偏光(4)经过隔离器(5)后产生隔离后的光束(6)，隔离后的光束(6)经过第一半波片(7a)后产生第一PBS入射线偏光(8)，第一PBS入射线偏光(8)经过第一偏振分光棱镜(9a)后分为稳频光束(10)和待调制单色线偏光(12)，稳频光束(10)输入到稳频环路(11)，待调制单色线偏光(12)经过电光调制器(13)产生多色线偏光(14)，多色线偏光(14)经过第二半波片(7b)后产生正交偏振仪多色线偏入射光(17)，正交偏振仪多色线偏入射光(17)经过正交偏振仪(26)后产生圆偏线偏组合光(21)，圆偏线偏组合光(21)经过原子气室(22)后由第三偏振分光棱镜(9c)分为第一待测线偏光(24a)和第二待测线偏光(24b)，第一待测线偏光(24a)和第二待测线偏光(24b)分别由第一探测器(25a)和第二探测器(25b)探测。
申请日期	2019-03-13
专利号	CN109839606A
专利状态	申请中
申请号	CN201910190535.2
公开（公告）号	CN109839606A
IPC 分类号	G01R33/032
专利代理人	李鹏 \| 王敏锋
代理机构	武汉宇晨专利事务所
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/55272
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国科学院武汉物理与数学研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	李松松,张奕,田原,等. 一种新型原子磁强计装置及检测方法. CN109839606A[P]. 2019-06-04.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN109839606A.PDF（527KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文