一种激光光场互相干系数测试装置

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	一种激光光场互相干系数测试装置
其他题名	一种激光光场互相干系数测试装置
	曹银花; 张晓宁; 邱运涛; 秦文斌; 刘友强; 王智勇
	2019-03-08
专利权人	北京工业大学
公开日期	2019-03-08
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明公开了一种激光光场互相干系数测试装置，半导体激光器出射的光束经分束镜分成光束Ⅰ和光束Ⅱ，光束Ⅰ和光束Ⅱ经过合束镜后，光束Ⅰ反射出的部分光与光束Ⅱ透射出的部分光产生干涉叠加，通过调节第一全反射镜或第二全反射镜的位置来实现对激光光场不同坐标的叠加，从而获得不同的叠加光场信息；第一光强探测器用于记录光束Ⅰ的光强I1，第三光强探测器用于记录光束Ⅱ的光强I2，第二光强探测器用于记录光束Ⅰ反射出的部分光强I1′与光束Ⅱ透射出的部分光强I2′干涉叠加后的总光强I，根据计算激光光场的互相干系数κ。本发明可计算出各个坐标组合下的相干系数，对改进半导体激光器的设计、提高光束质量有积极的影响。
其他摘要	本发明公开了一种激光光场互相干系数测试装置，半导体激光器出射的光束经分束镜分成光束Ⅰ和光束Ⅱ，光束Ⅰ和光束Ⅱ经过合束镜后，光束Ⅰ反射出的部分光与光束Ⅱ透射出的部分光产生干涉叠加，通过调节第一全反射镜或第二全反射镜的位置来实现对激光光场不同坐标的叠加，从而获得不同的叠加光场信息；第一光强探测器用于记录光束Ⅰ的光强I₁，第三光强探测器用于记录光束Ⅱ的光强I₂，第二光强探测器用于记录光束Ⅰ反射出的部分光强I₁′与光束Ⅱ透射出的部分光强I₂′干涉叠加后的总光强I，根据计算激光光场的互相干系数κ。本发明可计算出各个坐标组合下的相干系数，对改进半导体激光器的设计、提高光束质量有积极的影响。
主权项	一种激光光场互相干系数测试装置，其特征在于，包括：分束镜、第一全反射镜、第二全反射镜、合束镜、第一光强探测器、第二光强探测器和第三光强探测器；半导体激光器出射的光束经所述分束镜分成光束Ⅰ和光束Ⅱ，光束Ⅰ经所述第一全反射镜反射，光束Ⅱ经所述第二全反射镜反射，反射后的光束Ⅰ和光束Ⅱ经过所述合束镜后，光束Ⅰ反射出的部分光与光束Ⅱ透射出的部分光产生干涉叠加；通过调节所述第一全反射镜或第二全反射镜的位置来实现对激光光场不同坐标的叠加，从而获得不同的叠加光场信息；所述第一光强探测器用于记录光束Ⅰ的光强I1，所述第三光强探测器用于记录光束Ⅱ的光强I2，所述第二光强探测器用于记录光束Ⅰ反射出的部分光强I1′与光束Ⅱ透射出的部分光强I2′干涉叠加后的总光强I，根据计算激光光场的互相干系数κ。
申请日期	2018-10-23
专利号	CN109443532A
专利状态	申请中
申请号	CN201811236212.4
公开（公告）号	CN109443532A
IPC 分类号	G01J1/42
专利代理人	孙民兴
代理机构	北京汇信合知识产权代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/55053
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	北京工业大学
推荐引用方式 GB/T 7714	曹银花,张晓宁,邱运涛,等. 一种激光光场互相干系数测试装置. CN109443532A[P]. 2019-03-08.

条目包含的文件
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CN109443532A.PDF（318KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文