OPT OpenIR  > 光电跟踪与测量技术研究室
利用三次样条插值提高自准直仪的准确度
吴文明; 高立民; 吴易明; 吴璀罡; 白建明
作者部门光电跟踪与测量技术研究室
2007
发表期刊光子学报
ISSN1004-4213
卷号36期号:8页码:1561-1564
学科领域光学
收录类别EI
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/5400
专题光电跟踪与测量技术研究室
通讯作者高立民
推荐引用方式
GB/T 7714
吴文明,高立民,吴易明,等. 利用三次样条插值提高自准直仪的准确度[J]. 光子学报,2007,36(8):1561-1564.
APA 吴文明,高立民,吴易明,吴璀罡,&白建明.(2007).利用三次样条插值提高自准直仪的准确度.光子学报,36(8),1561-1564.
MLA 吴文明,et al."利用三次样条插值提高自准直仪的准确度".光子学报 36.8(2007):1561-1564.
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