Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 回路検査装置および回路検査方法 | |
| 其他题名 | 回路検査装置および回路検査方法 |
| 伊藤 哲 | |
| 2007-12-06 | |
| 专利权人 | ソニー株式会社 |
| 公开日期 | 2007-12-06 |
| 授权国家 | 日本 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 摘要 | 【課題】基板に構成された回路の動作検査を行うにあたり、安定した温度制御を行うこと。 【解決手段】本発明は、半導体レーザバー4に構成された半導体レーザチップ3に対して通電して動作を検査する回路検査装置1において、半導体レーザチップ3と導通する電極パッド31に接触して通電を行うプローブ2と、プローブ2を介した半導体レーザチップ3への通電の状態によって半導体レーザチップ3から出射されるレーザ光を検出する受光素子部8と、受光素子部8による半導体レーザチップ3の動作の検出を行う間、半導体レーザチップ3および受光素子部8を所定の温度に制御された溶媒Lで浸すための供給ノズル6とを備えている。 【選択図】図1 |
| 其他摘要 | 要解决的问题：在检查基板上构成的电路的操作时执行稳定的温度控制。解决方案：电路检查装置1电流承载构成在半导体激光器条4上的半导体激光器芯片3，并检查其操作。电路检查装置1包括：探针2，其与电极焊盘31接触，与半导体激光芯片3导通并进行载流;光接收元件部分8，用于检测从半导体激光器芯片发射的激光束如图3所示，根据通过探头2对半导体激光器芯片3的载流状态，以及用于将半导体激光器芯片3和光接收元件部分8浸入控制在预定温度的溶剂L中的供给喷嘴6，通过光接收元件部分8检测半导体激光器芯片3的操作 |
| 主权项 | - |
| 申请日期 | 2006-05-29 |
| 专利号 | JP2007315986A |
| 专利状态 | 失效 |
| 申请号 | JP2006147617 |
| 公开（公告）号 | JP2007315986A |
| IPC 分类号 | H01S5/00 | H01S | G01R | G01R31/26 |
| 专利代理人 | 船橋 國則 |
| 代理机构 | - |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/51531 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | ソニー株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 伊藤 哲. 回路検査装置および回路検査方法. JP2007315986A[P]. 2007-12-06. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| JP2007315986A.PDF（96KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
| 个性服务 |
| 推荐该条目 |
| 保存到收藏夹 |
| 查看访问统计 |
| 导出为Endnote文件 |
| 谷歌学术 |
| 谷歌学术中相似的文章 |
| [伊藤 哲]的文章 |
| 百度学术 |
| 百度学术中相似的文章 |
| [伊藤 哲]的文章 |
| 必应学术 |
| 必应学术中相似的文章 |
| [伊藤 哲]的文章 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论