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回路検査装置および回路検査方法
其他题名回路検査装置および回路検査方法
伊藤 哲
2007-12-06
专利权人ソニー株式会社
公开日期2007-12-06
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要【課題】基板に構成された回路の動作検査を行うにあたり、安定した温度制御を行うこと。 【解決手段】本発明は、半導体レーザバー4に構成された半導体レーザチップ3に対して通電して動作を検査する回路検査装置1において、半導体レーザチップ3と導通する電極パッド31に接触して通電を行うプローブ2と、プローブ2を介した半導体レーザチップ3への通電の状態によって半導体レーザチップ3から出射されるレーザ光を検出する受光素子部8と、受光素子部8による半導体レーザチップ3の動作の検出を行う間、半導体レーザチップ3および受光素子部8を所定の温度に制御された溶媒Lで浸すための供給ノズル6とを備えている。 【選択図】図1
其他摘要要解决的问题:在检查基板上构成的电路的操作时执行稳定的温度控制。解决方案:电路检查装置1电流承载构成在半导体激光器条4上的半导体激光器芯片3,并检查其操作。电路检查装置1包括:探针2,其与电极焊盘31接触,与半导体激光芯片3导通并进行载流;光接收元件部分8,用于检测从半导体激光器芯片发射的激光束如图3所示,根据通过探头2对半导体激光器芯片3的载流状态,以及用于将半导体激光器芯片3和光接收元件部分8浸入控制在预定温度的溶剂L中的供给喷嘴6,通过光接收元件部分8检测半导体激光器芯片3的操作
主权项-
申请日期2006-05-29
专利号JP2007315986A
专利状态失效
申请号JP2006147617
公开(公告)号JP2007315986A
IPC 分类号H01S5/00 | H01S | G01R | G01R31/26
专利代理人船橋 國則
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/51531
专题半导体激光器专利数据库
作者单位ソニー株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
伊藤 哲. 回路検査装置および回路検査方法. JP2007315986A[P]. 2007-12-06.
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