采用气体参考腔反馈补偿的半导体激光器气体检测系统

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	采用气体参考腔反馈补偿的半导体激光器气体检测系统
其他题名	采用气体参考腔反馈补偿的半导体激光器气体检测系统
	骆飞; 祝连庆; 董明利; 何巍; 张荫民
	2015-09-09
专利权人	北京信息科技大学
公开日期	2015-09-09
授权国家	中国
专利类型	授权发明
摘要	本发明提供了一种采用气体参考腔补偿的半导体激光器气体检测系统,所述系统包括发出不同波长光束的第一光源和第二光源和与其连接的第一波分复用器，将载有不同波长的光束合成一束并输出到宽带耦合器进行功率分束，分束后的光束分别通入到参考气室和检测气室，连接参考气室的第二波分复用器以及连接检测气室的第三波分复用器，用于将经过参考气室和检测气室的光束按照所述波长不同进行分束；第一和第二光电检测器，连接至所述第二波分复用器；第三和第四光电检测器，连接至所述第三波分复用器，生成第一至第四光强度信号；反馈控制单元，接收第一至第四光强度信号，并将比较结果作为反馈信号调节第一和第二光源。
其他摘要	本发明提供了一种采用气体参考腔补偿的半导体激光器气体检测系统,所述系统包括发出不同波长光束的第一光源和第二光源和与其连接的第一波分复用器，将载有不同波长的光束合成一束并输出到宽带耦合器进行功率分束，分束后的光束分别通入到参考气室和检测气室，连接参考气室的第二波分复用器以及连接检测气室的第三波分复用器，用于将经过参考气室和检测气室的光束按照所述波长不同进行分束；第一和第二光电检测器，连接至所述第二波分复用器；第三和第四光电检测器，连接至所述第三波分复用器，生成第一至第四光强度信号；反馈控制单元，接收第一至第四光强度信号，并将比较结果作为反馈信号调节第一和第二光源。
申请日期	2013-10-14
专利号	CN103499545B
专利状态	授权
申请号	CN201310479226.X
公开（公告）号	CN103499545B
IPC 分类号	G01N21/31
专利代理人	顾珊 \| 蔡艳园
代理机构	北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/50075
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	北京信息科技大学
推荐引用方式 GB/T 7714	骆飞,祝连庆,董明利,等. 采用气体参考腔反馈补偿的半导体激光器气体检测系统. CN103499545B[P]. 2015-09-09.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN103499545B.PDF（860KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文