半导体激光阵列光学特性检测装置

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	半导体激光阵列光学特性检测装置
其他题名	半导体激光阵列光学特性检测装置
	曹银花; 郭志婕; 王智勇; 刘友强; 李景
	2014-06-25
专利权人	北京工业大学
公开日期	2014-06-25
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型提供一种半导体激光阵列光学特性检测装置，涉及一种激光技术领域。该实用新型包括半导体激光阵列、检测装置、电控平移台与计算机，其中，检测装置包括吸收模块A、吸收模块B、反射棱镜A、反射棱镜B与平面反射镜，吸收模块A和吸收模块B分别设置在检测装置的上部与下部，反射棱镜A的底部固定在吸收模块A的下方且其尖端向下倾斜，反射棱镜B的底部固定在吸收模块B的上方且其尖端向上倾斜，反射棱镜A的尖端和反射棱镜B的尖端相靠近形成一间隙，平面反射镜固定在间隙的中轴线处并且位于反射棱镜A和反射棱镜B后方。本实用新型对半导体激光阵列中巴条的光学特性进行高精度和自动化检测，并对其质量进行有效地控制，降低了成本。
其他摘要	本实用新型提供一种半导体激光阵列光学特性检测装置，涉及一种激光技术领域。该实用新型包括半导体激光阵列、检测装置、电控平移台与计算机，其中，检测装置包括吸收模块A、吸收模块B、反射棱镜A、反射棱镜B与平面反射镜，吸收模块A和吸收模块B分别设置在检测装置的上部与下部，反射棱镜A的底部固定在吸收模块A的下方且其尖端向下倾斜，反射棱镜B的底部固定在吸收模块B的上方且其尖端向上倾斜，反射棱镜A的尖端和反射棱镜B的尖端相靠近形成一间隙，平面反射镜固定在间隙的中轴线处并且位于反射棱镜A和反射棱镜B后方。本实用新型对半导体激光阵列中巴条的光学特性进行高精度和自动化检测，并对其质量进行有效地控制，降低了成本。
申请日期	2014-01-21
专利号	CN203672595U
专利状态	失效
申请号	CN201420037983.1
公开（公告）号	CN203672595U
IPC 分类号	G01M11/02
专利代理人	王秀丽
代理机构	北京汇信合知识产权代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/49946
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	北京工业大学
推荐引用方式 GB/T 7714	曹银花,郭志婕,王智勇,等. 半导体激光阵列光学特性检测装置. CN203672595U[P]. 2014-06-25.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN203672595U.PDF（355KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文