Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 一种提高激光测距仪精度的方法及设备 | |
| 其他题名 | 一种提高激光测距仪精度的方法及设备 |
| 王振兴 | |
| 2013-01-02 | |
| 专利权人 | 深圳市度彼电子有限公司 |
| 公开日期 | 2013-01-02 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 授权发明 |
| 摘要 | 一种提高激光测距仪精度的方法，包括半导体激光发射器LD和光敏元件组成的发射和接收系统，分别将环境对LD和光敏元件造成的影响补偿消除，其中，所述将环境对LD造成的影响进行补偿消除包括如下步骤：将LD的真实发射信号引出，进行放大、混频、鉴相得到相位；同时LD的发射出去的测量信号由光敏元件接收也进行放大、混频、鉴相处理得到相位，再将两次的相位相减，这样得到信号就是没有环境影响的真实相位。 |
| 其他摘要 | 一种提高激光测距仪精度的方法，包括半导体激光发射器LD和光敏元件组成的发射和接收系统，分别将环境对LD和光敏元件造成的影响补偿消除，其中，所述将环境对LD造成的影响进行补偿消除包括如下步骤：将LD的真实发射信号引出，进行放大、混频、鉴相得到相位；同时LD的发射出去的测量信号由光敏元件接收也进行放大、混频、鉴相处理得到相位，再将两次的相位相减，这样得到信号就是没有环境影响的真实相位。 |
| 申请日期 | 2010-04-02 |
| 专利号 | CN101799536B |
| 专利状态 | 授权 |
| 申请号 | CN201010137843.8 |
| 公开（公告）号 | CN101799536B |
| IPC 分类号 | G01S7/481 | G01S17/08 |
| 专利代理人 | 刘大弯 |
| 代理机构 | 深圳市凯达知识产权事务所 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/49925 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 深圳市度彼电子有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王振兴. 一种提高激光测距仪精度的方法及设备. CN101799536B[P]. 2013-01-02. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN101799536B.PDF（655KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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