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使用纵横比俘获生长的硅上激光器结构
其他题名使用纵横比俘获生长的硅上激光器结构
郑政玮; E·里欧班端; 李宁; D·K·萨达纳; 徐崑庭
2019-04-19
专利权人国际商业机器公司
公开日期2019-04-19
授权国家中国
专利类型授权发明
摘要一种使用纵横比俘获(ART)生长在硅上形成激光器的方法。方法可以包括:在衬底上形成第一绝缘体层;在第一绝缘体层中刻蚀沟槽从而暴露衬底的顶表面;使用ART生长在沟槽中形成缓冲层;在缓冲层上形成激光器,激光器包括至少一个活性区域以及顶部包覆层;以及形成在顶部包覆层上的顶部接触以及在衬底上的底部接触。
其他摘要一种使用纵横比俘获(ART)生长在硅上形成激光器的方法。方法可以包括:在衬底上形成第一绝缘体层;在第一绝缘体层中刻蚀沟槽从而暴露衬底的顶表面;使用ART生长在沟槽中形成缓冲层;在缓冲层上形成激光器,激光器包括至少一个活性区域以及顶部包覆层;以及形成在顶部包覆层上的顶部接触以及在衬底上的底部接触。
申请日期2016-03-29
专利号CN106025799B
专利状态授权
申请号CN20161018875X
公开(公告)号CN106025799B
IPC 分类号H01S5/323
专利代理人酆迅 | 张宁
代理机构北京市金杜律师事务所
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/49380
专题半导体激光器专利数据库
作者单位国际商业机器公司
推荐引用方式
GB/T 7714
郑政玮,E·里欧班端,李宁,等. 使用纵横比俘获生长的硅上激光器结构. CN106025799B[P]. 2019-04-19.
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文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN106025799B.PDF(1419KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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