10G带制冷半导体激光器性能测试系统

OPT OpenIR > 半导体激光器专利数据库

	10G带制冷半导体激光器性能测试系统
其他题名	10G带制冷半导体激光器性能测试系统
	张彩; 宋鹏飞; 崔晓磊; 崔琳; 张文臣; 袁家勇
	2016-10-05
专利权人	大连藏龙光电子科技有限公司
公开日期	2016-10-05
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型涉及光发射器性能测试系统领域，尤其是一种光通信用光发射器的性能测试系统。提出了10G带制冷半导体激光器性能测试系统，误码仪的信号发射端和接收端经高频线分别与测试盒的发射端和接收端相连接，误码仪的信号触发端和示波器的信号触发端连接，光模块置于测试盒上且与测试盒电连接，测试盒由双路直流稳压电源供电，待测激光器与光模块的发射端压触式电连接；待测激光器输出的光信号输入至光开关的输入通道，光开关的各个输出通道分别接光功率计、波长计、示波器等测试器件，测试待测激光器的各项性能指标。本实用新型测试系统结构简单，兼容性好，灵活方便，可且更贴近客户使用端性能测试，测试速度快，效率高，成本低。
其他摘要	本实用新型涉及光发射器性能测试系统领域，尤其是一种光通信用光发射器的性能测试系统。提出了10G带制冷半导体激光器性能测试系统，误码仪的信号发射端和接收端经高频线分别与测试盒的发射端和接收端相连接，误码仪的信号触发端和示波器的信号触发端连接，光模块置于测试盒上且与测试盒电连接，测试盒由双路直流稳压电源供电，待测激光器与光模块的发射端压触式电连接；待测激光器输出的光信号输入至光开关的输入通道，光开关的各个输出通道分别接光功率计、波长计、示波器等测试器件，测试待测激光器的各项性能指标。本实用新型测试系统结构简单，兼容性好，灵活方便，可且更贴近客户使用端性能测试，测试速度快，效率高，成本低。
申请日期	2016-05-19
专利号	CN205620110U
专利状态	授权
申请号	CN201620457928.7
公开（公告）号	CN205620110U
IPC 分类号	G01M11/02
专利代理人	于忠晶
代理机构	大连博晟专利代理事务所(特殊普通合伙)
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48881
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	大连藏龙光电子科技有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	张彩,宋鹏飞,崔晓磊,等. 10G带制冷半导体激光器性能测试系统. CN205620110U[P]. 2016-10-05.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN205620110U.PDF（133KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文