激光器阵列装配指向性测试系统

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	激光器阵列装配指向性测试系统
其他题名	激光器阵列装配指向性测试系统
	任永学; 王英顺; 闫立华
	2015-10-21
专利权人	中国电子科技集团公司第十三研究所
公开日期	2015-10-21
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型公开了一种激光器阵列装配指向性测试系统，涉及光电装置技术领域。所述系统包括半导体激光器叠层阵列、若干个准直透镜、光屏、光斑在线监测系统，所述半导体激光器叠层阵列为半导体激光器的巴条在快轴方向堆叠而成，每个巴条对应一个准直透镜，准直透镜设置于所述巴条的出射光窗口处，所述光屏与巴条的出射光窗口相对设置，通过准直透镜汇聚后的光束照射到光屏上形成光斑，所述光斑在线监测系统包括摄像头和与摄像头连接的数据处理计算机。通过所述系统可实时调节准直透镜的位置、旋转、俯仰等，保证光束准直过程中，光束质量最优化，提高大功率半导体激光器的光束质量。
其他摘要	本实用新型公开了一种激光器阵列装配指向性测试系统，涉及光电装置技术领域。所述系统包括半导体激光器叠层阵列、若干个准直透镜、光屏、光斑在线监测系统，所述半导体激光器叠层阵列为半导体激光器的巴条在快轴方向堆叠而成，每个巴条对应一个准直透镜，准直透镜设置于所述巴条的出射光窗口处，所述光屏与巴条的出射光窗口相对设置，通过准直透镜汇聚后的光束照射到光屏上形成光斑，所述光斑在线监测系统包括摄像头和与摄像头连接的数据处理计算机。通过所述系统可实时调节准直透镜的位置、旋转、俯仰等，保证光束准直过程中，光束质量最优化，提高大功率半导体激光器的光束质量。
申请日期	2015-06-30
专利号	CN204720774U
专利状态	授权
申请号	CN201520474254.7
公开（公告）号	CN204720774U
IPC 分类号	H01S5/00 \| H01S5/40
专利代理人	米文智
代理机构	石家庄国为知识产权事务所
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48865
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国电子科技集团公司第十三研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	任永学,王英顺,闫立华. 激光器阵列装配指向性测试系统. CN204720774U[P]. 2015-10-21.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN204720774U.PDF（456KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文