Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 半导体激光器热弛豫时间的测试装置及其测量方法 | |
| 其他题名 | 半导体激光器热弛豫时间的测试装置及其测量方法 |
| 陈晨; 辛国锋; 方祖捷 | |
| 2008-04-23 | |
| 专利权人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 公开日期 | 2008-04-23 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 授权发明 |
| 摘要 | 一种半导体激光器的热弛豫时间的测量装置及其测试方法，该装置的构成是：一脉冲电源，该脉冲电源的输出端接半导体激光器，沿该半导体激光器的激光前进方向依次是准直系统和光谱仪，光电倍增管位于所述的光谱仪的输出狭缝，光电倍增管的输出端接Boxcar积分器的输入端，所述的脉冲电源的同步输出端经过延时电路连接Boxcar积分器的触发输入端，计算机输入端数据采集卡连接Boxcar积分器输出端。本发明的优点是：不需测试激光器阈值电流和斜率效率随结温的变化关系；装置造价低，容易搭建，方法简单、稳定性好。 |
| 其他摘要 | 一种半导体激光器的热弛豫时间的测量装置及其测试方法，该装置的构成是：一脉冲电源，该脉冲电源的输出端接半导体激光器，沿该半导体激光器的激光前进方向依次是准直系统和光谱仪，光电倍增管位于所述的光谱仪的输出狭缝，光电倍增管的输出端接Boxcar积分器的输入端，所述的脉冲电源的同步输出端经过延时电路连接Boxcar积分器的触发输入端，计算机输入端数据采集卡连接Boxcar积分器输出端。本发明的优点是：不需测试激光器阈值电流和斜率效率随结温的变化关系；装置造价低，容易搭建，方法简单、稳定性好。 |
| 申请日期 | 2005-06-08 |
| 专利号 | CN100383541C |
| 专利状态 | 失效 |
| 申请号 | CN200510026554.X |
| 公开（公告）号 | CN100383541C |
| IPC 分类号 | G01R31/26 | H01L21/66 |
| 专利代理人 | 张泽纯 |
| 代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48861 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈晨,辛国锋,方祖捷. 半导体激光器热弛豫时间的测试装置及其测量方法. CN100383541C[P]. 2008-04-23. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN100383541C.PDF（299KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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