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基于光开关的半导体激光器通道代价自动测试系统
其他题名基于光开关的半导体激光器通道代价自动测试系统
张笑天; 张文斌; 于晶; 杨炳雄
2011-09-28
专利权人大连艾科科技开发有限公司
公开日期2011-09-28
授权国家中国
专利类型实用新型
摘要本实用新型公开一种基于光开关的半导体激光器通道代价自动测试系统,设有第一光开关,与第一光开关相接有示波器及光谱分析仪;与第一光开关还相接有第二光开关,第二光开关的输出依次通过衰减器、接收器与误码分析仪相接。每次测试通道代价时,只需要更换被测激光器即可,无需再次插拔测试设备,操作简单、测试效率高,可大大减少了人为误差和系统误差,从而提高了测试结果的可靠性。
其他摘要本实用新型公开一种基于光开关的半导体激光器通道代价自动测试系统,设有第一光开关,与第一光开关相接有示波器及光谱分析仪;与第一光开关还相接有第二光开关,第二光开关的输出依次通过衰减器、接收器与误码分析仪相接。每次测试通道代价时,只需要更换被测激光器即可,无需再次插拔测试设备,操作简单、测试效率高,可大大减少了人为误差和系统误差,从而提高了测试结果的可靠性。
申请日期2010-12-23
专利号CN201993223U
专利状态失效
申请号CN201020675962.4
公开(公告)号CN201993223U
IPC 分类号G01M11/02
专利代理人闪红霞
代理机构大连非凡专利事务所
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48555
专题半导体激光器专利数据库
作者单位大连艾科科技开发有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
张笑天,张文斌,于晶,等. 基于光开关的半导体激光器通道代价自动测试系统. CN201993223U[P]. 2011-09-28.
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文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
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