Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 一种激光探测系统性能检测用激光信号生成装置 | |
| 其他题名 | 一种激光探测系统性能检测用激光信号生成装置 |
| 李宝柱; 李邦军 | |
| 2015-05-20 | |
| 专利权人 | 中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所 |
| 公开日期 | 2015-05-20 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 摘要 | 本实用新型属于激光探测系统性能检测技术领域，具体涉及一种激光探测系统性能检测用激光信号生成装置，其用于角度精密测量的四象限激光探测系统在角度测量精度检测过程。该激光信号生成装置包括：半导体激光器、半导体激光器驱动源、整形镜头、光阑-毛玻璃组件、可调焦平行光管；该技术方案所提供的激光信号生成装置能够生成高准直性、高均匀性、大光束口径和高功率稳定性的激光光束，具备输出激光功率、激光脉冲宽度、激光重复频率实时可调功能。并且，该装置有效通光口径较大，能够适用于角度测量精度指标的精密测试。 |
| 其他摘要 | 本实用新型属于激光探测系统性能检测技术领域，具体涉及一种激光探测系统性能检测用激光信号生成装置，其用于角度精密测量的四象限激光探测系统在角度测量精度检测过程。该激光信号生成装置包括：半导体激光器、半导体激光器驱动源、整形镜头、光阑-毛玻璃组件、可调焦平行光管；该技术方案所提供的激光信号生成装置能够生成高准直性、高均匀性、大光束口径和高功率稳定性的激光光束，具备输出激光功率、激光脉冲宽度、激光重复频率实时可调功能。并且，该装置有效通光口径较大，能够适用于角度测量精度指标的精密测试。 |
| 申请日期 | 2014-10-23 |
| 专利号 | CN204346673U |
| 专利状态 | 失效 |
| 申请号 | CN201420618077.0 |
| 公开（公告）号 | CN204346673U |
| IPC 分类号 | G01M11/00 |
| 专利代理人 | 刘东升 |
| 代理机构 | 中国兵器工业集团公司专利中心 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48342 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李宝柱,李邦军. 一种激光探测系统性能检测用激光信号生成装置. CN204346673U[P]. 2015-05-20. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN204346673U.PDF（268KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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