基于光栅投影的三维内窥测量装置

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	基于光栅投影的三维内窥测量装置
其他题名	基于光栅投影的三维内窥测量装置
	周常河; 王晓鑫; 张军; 谢金; 贾伟
	2009-03-18
专利权人	中国科学院上海光学精密机械研究所
公开日期	2009-03-18
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	一种基于光栅投影的三维内窥测量装置，其特点在于由光纤导像束、振幅型透射光栅、准直透镜、半导体激光器光源、微型面阵CCD探测器、传输线、图像采集卡和计算机构成，所述的计算机具有相应的图像处理和三维形貌计算重构软件，各部件的连接关系是：所述的半导体激光器光源发出的激光依次经准直透镜、振幅型透射光栅和光纤导像束照射在待测物体表面，由微型面阵CCD探测器拍摄被待测物体表面三维形貌所调制的振幅型透射光栅的投影条纹后经传输线、图像采集卡进入计算机。本实用新型能够获得内窥对象的三维形貌信息，并具有测量速度快、测量精度较和方法简单的特点。
其他摘要	一种基于光栅投影的三维内窥测量装置，其特点在于由光纤导像束、振幅型透射光栅、准直透镜、半导体激光器光源、微型面阵CCD探测器、传输线、图像采集卡和计算机构成，所述的计算机具有相应的图像处理和三维形貌计算重构软件，各部件的连接关系是：所述的半导体激光器光源发出的激光依次经准直透镜、振幅型透射光栅和光纤导像束照射在待测物体表面，由微型面阵CCD探测器拍摄被待测物体表面三维形貌所调制的振幅型透射光栅的投影条纹后经传输线、图像采集卡进入计算机。本实用新型能够获得内窥对象的三维形貌信息，并具有测量速度快、测量精度较和方法简单的特点。
主权项	一种基于光栅投影的三维内窥测量装置，其特征在于由光纤导像束(2)、振幅型透射光栅(3)、准直透镜(4)、半导体激光器光源(5)、微型面阵CCD探测器(6)、传输线(7)、图像采集卡(8)和计算机(9)构成，各部件的连接关系是：所述的半导体激光器光源(5)发出的激光依次经准直透镜(4)、振幅型透射光栅(3)和光纤导像束(2)照射在待测物体表面，由微型面阵CCD探测器(6)拍摄被待测物体表面三维形貌所调制的振幅型透射光栅的投影条纹后经传输线(7)、图像采集卡(8)进入计算机(9)，所述的计算机(9)具有相应的图像处理和三维形貌计算重构软件。
申请日期	2008-05-06
专利号	CN201208249Y
专利状态	失效
申请号	CN200820058062.8
公开（公告）号	CN201208249Y
IPC 分类号	A61B1/06 \| G06T7/00
专利代理人	张泽纯
代理机构	上海新天专利代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/47073
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国科学院上海光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	周常河,王晓鑫,张军,等. 基于光栅投影的三维内窥测量装置. CN201208249Y[P]. 2009-03-18.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN201208249Y.PDF（374KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文